光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家

不分光紅外CO分析儀
不分光紅外co分析儀是我公司針對(duì)公共場(chǎng)所、工作場(chǎng)所的空氣中的有毒有害物質(zhì)進(jìn)行檢查的高精度儀器，儀器采用不分光紅外分析法/非分散紅外法（ndir）測(cè)量空氣中的壹氧化碳、二氧化碳濃等的濃度，具有測(cè)量精度高，使用壽命長(zhǎng)，交叉干擾小等優(yōu)點(diǎn)，是環(huán)境監(jiān)測(cè)域，職業(yè)衛(wèi)生監(jiān)測(cè)域的必備儀器
更新時(shí)間:2024-12-21
PSD-PF100-1A-0.5 電子除塵箱
電子除塵箱，可分水平送風(fēng)和垂直送風(fēng)兩大類(lèi)。電子除塵箱采用初效過(guò)濾器和高效過(guò)濾器對(duì)進(jìn)入操作區(qū)的空氣進(jìn)行兩過(guò)濾，可使工作區(qū)域的潔凈度達(dá)到10、100。整體結(jié)構(gòu)緊湊，外形美觀，箱體全鋼結(jié)構(gòu)噴塑，操作臺(tái)面采用不銹鋼材質(zhì)制造而成，經(jīng)久耐用？赏饨痈呒兊?dú)，氮(dú)膺^(guò)濾組，使用萬(wàn)向管進(jìn)行定位吹掃？蛇x配自動(dòng)選轉(zhuǎn)器（可正反轉(zhuǎn)動(dòng)），便于均勻選轉(zhuǎn)。
更新時(shí)間:2024-12-21
中空玻璃測(cè)厚儀
ns500中空玻璃測(cè)厚儀專(zhuān)用于測(cè)量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測(cè)量。對(duì)于中空玻璃厚度的測(cè)量，同時(shí)測(cè)得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2024-12-21
臺(tái)式透光率儀
ns550a臺(tái)式透光率儀 測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2024-12-21
高精度透過(guò)率測(cè)試儀
ns12高精度透過(guò)率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2024-12-21
防爆膜測(cè)試儀
ns10a防爆膜測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2024-12-21
光學(xué)透過(guò)率測(cè)量?jī)x
ns13a光學(xué)透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2024-12-21
IR油墨透光率儀
ns550ir油墨透光率儀的測(cè)試原理是采用紅外850nm光源，紅外940nm光源和可見(jiàn)550nm光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率,用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2024-12-21
太陽(yáng)膜透過(guò)率測(cè)試儀
ns11太陽(yáng)膜透過(guò)率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，可見(jiàn)光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2024-12-21
汽車(chē)前擋玻璃透光率儀
ns530a汽車(chē)前擋玻璃透光率儀具有的三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外，紅外，和可見(jiàn)光，顯示值為紅外透過(guò)率值，紫外透過(guò)率值和可見(jiàn)光透過(guò)率值。
更新時(shí)間:2024-12-21
汽車(chē)太陽(yáng)膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器
ns101汽車(chē)太陽(yáng)膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器的測(cè)試原理是采用紫外光源,可見(jiàn)光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率,用百分?jǐn)?shù)表示。大多數(shù)的太陽(yáng)膜,可見(jiàn)光標(biāo)注透過(guò)率指標(biāo),紅外線和紫外線標(biāo)注阻隔率指標(biāo),阻隔率=100%-透過(guò)率。ns101直接測(cè)量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見(jiàn)光透過(guò)率,
更新時(shí)間:2024-12-21
卡式便攜式透光率儀
ns13a卡式便攜式透光率儀，透光率測(cè)試儀，透光率檢測(cè)儀，透光率計(jì)，透過(guò)率測(cè)試儀，玻璃透光率儀，鏡片透光率測(cè)試儀，眼鏡片透光率儀，透明材料透光率儀，涂料透光率儀，太陽(yáng)鏡片透光率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-21
臺(tái)式光學(xué)透過(guò)率測(cè)試儀
ns550h臺(tái)式光學(xué)透過(guò)率測(cè)試儀測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2024-12-21
便攜式透光率儀
ns15a透光率儀是一款寬譜線可見(jiàn)光(380nm～760nm)測(cè)量?jī)x，測(cè)試原理是采用三路完全相同的可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三路光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2024-12-21
眼鏡鏡片光學(xué)透過(guò)率儀
ns550a眼鏡鏡片光學(xué)透過(guò)率儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2024-12-21
多波段透過(guò)率測(cè)試儀
ns365多波段透過(guò)率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示
更新時(shí)間:2024-12-21
中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x
ns500中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x測(cè)試原理是利用光學(xué)反射原理，可在玻璃的單側(cè)表面測(cè)量玻璃厚度，尤其適用于通用測(cè)量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃（中空玻璃）窗厚度的測(cè)量。對(duì)于空氣夾層玻璃的測(cè)量，還可以同時(shí)獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2024-12-21
自動(dòng)在線光學(xué)檢測(cè)儀 單軌在線AOI SMT焊接爐后檢測(cè)設(shè)備JTA-JUTI-X
aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個(gè)位置，但有三個(gè)位子是主要的：1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測(cè)放在錫膏印刷機(jī)之后，這是個(gè)典型的放置位置，因?yàn)楹芏嗳毕菔怯捎阱a膏印刷的不良所造成的，如錫膏量不足可能會(huì)導(dǎo)致元件丟失或開(kāi)路的原因。2、回流焊，將檢測(cè)設(shè)備放置于貼片后
更新時(shí)間:2024-12-21
影像測(cè)量?jī)x，二次元影像測(cè)量?jī)x，二次元測(cè)量?jī)x
影像測(cè)量?jī)x，二次元影像測(cè)量?jī)x，二次元測(cè)量?jī)x主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機(jī)將待測(cè)物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專(zhuān)業(yè)的影像測(cè)量軟件，便能高效檢測(cè)各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時(shí)間:2024-12-20
線纜絕緣層測(cè)量投影儀哪家好，輪廓測(cè)量投影儀的價(jià)格，絕緣護(hù)套檢測(cè)投影儀多少錢(qián)
線纜絕緣層測(cè)量投影儀哪家好，輪廓測(cè)量投影儀的價(jià)格，絕緣護(hù)套檢測(cè)投影儀多少錢(qián)被測(cè)工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2024-12-20
最新線纜絕緣層測(cè)量投影儀價(jià)格，電纜外被厚度測(cè)量投影儀性能介紹，絕緣護(hù)套輪廓測(cè)試投影儀哪家好
絕緣護(hù)套測(cè)量投影儀，電纜外被測(cè)量投影儀，300測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門(mén)的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車(chē)間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2024-12-20
輪廓測(cè)量投影儀參數(shù)，哪里有測(cè)量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測(cè)量投影儀
輪廓測(cè)量投影儀參數(shù)，哪里有測(cè)量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門(mén)的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車(chē)間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2024-12-20
線纜厚度分析測(cè)量投影儀，最新電纜外被測(cè)量投影儀價(jià)格，最實(shí)惠機(jī)械測(cè)量投影儀
線纜厚度分析測(cè)量投影儀，最新電纜外被測(cè)量投影儀價(jià)格，最實(shí)惠機(jī)械測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門(mén)的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車(chē)間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2024-12-20
機(jī)械式輪廓測(cè)量投影儀參數(shù)，線纜絕緣厚度測(cè)量投影儀價(jià)格，電纜外被測(cè)量投影儀市場(chǎng)價(jià)格
機(jī)械式輪廓測(cè)量投影儀參數(shù)，線纜絕緣厚度測(cè)量投影儀價(jià)格，電纜外被測(cè)量投影儀市場(chǎng)價(jià)格是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門(mén)的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車(chē)間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2024-12-20
影像測(cè)量?jī)x參數(shù)，二次元影像測(cè)量?jī)x的價(jià)格，二次元測(cè)量?jī)x特點(diǎn)
影像測(cè)量?jī)x參數(shù)，二次元影像測(cè)量?jī)x的價(jià)格，二次元測(cè)量?jī)x特點(diǎn)主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機(jī)將待測(cè)物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專(zhuān)業(yè)的影像測(cè)量軟件，便能高效檢測(cè)各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時(shí)間:2024-12-20
線纜檢測(cè)測(cè)量投影儀，工件輪廓測(cè)量投影儀，線纜投影儀的參數(shù)
線纜檢測(cè)用投影儀，輪廓檢測(cè)投影儀，絕緣護(hù)套檢測(cè)投影儀被測(cè)工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2024-12-20
低倍測(cè)量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測(cè)量投影儀
低倍測(cè)量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測(cè)量投影儀被測(cè)工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2024-12-20
線纜截面測(cè)試投影儀，線纜絕緣護(hù)套測(cè)試儀，線纜檢測(cè)投影儀
數(shù)碼管顯示處理器介紹1）點(diǎn)、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測(cè)量、預(yù)置和構(gòu)造2）座標(biāo)擺正和座標(biāo)平移，方便擺正工件，減少調(diào)整時(shí)間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打印）5）多種座標(biāo)顯示方式，極座標(biāo)和直角座標(biāo)、inc座標(biāo)和abs座標(biāo)公制和英制6）對(duì)光柵尺可進(jìn)行線性補(bǔ)償或區(qū)段線性補(bǔ)償7）z軸可接光柵尺或旋轉(zhuǎn)編碼器
更新時(shí)間:2024-12-20
測(cè)量數(shù)顯投影儀
電線電纜測(cè)量數(shù)顯投影儀的詳細(xì)描述： 電線電纜測(cè)量數(shù)顯投影儀主要技術(shù)參數(shù)： 1）電線電纜測(cè)量數(shù)顯投影儀投影屏面徑：￠300mm，內(nèi)刻式米字線，永不磨損。 2）電線電纜測(cè)量數(shù)顯投影儀旋轉(zhuǎn)角度數(shù)顯顯示值：0.01°或者1′
更新時(shí)間:2024-12-20
測(cè)量投影儀
測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門(mén)的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車(chē)間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2024-12-20
安徽電纜測(cè)量投影儀，江蘇輪廓測(cè)量投影儀，工業(yè)測(cè)量投影儀
工業(yè)測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門(mén)的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車(chē)間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2024-12-20
絕緣護(hù)套測(cè)量投影儀，電纜外被測(cè)量投影儀，300測(cè)量投影儀
絕緣護(hù)套測(cè)量投影儀，電纜外被測(cè)量投影儀，300測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門(mén)的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車(chē)間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2024-12-20
輪廓測(cè)量投影儀批發(fā)，電線電纜廠用投影儀，低價(jià)電纜外被測(cè)量投影儀
輪廓測(cè)量投影儀批發(fā)，電線電纜廠用投影儀，低價(jià)電纜外被測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門(mén)的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車(chē)間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2024-12-20
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，測(cè)試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2024-12-20
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測(cè)試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2024-12-20
德國(guó)NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時(shí)間:2024-12-20
德國(guó)NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測(cè)試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動(dòng)進(jìn)樣器，高的測(cè)量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測(cè)試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測(cè)量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2024-12-20
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2024-12-20
美國(guó)泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
美國(guó)泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-12-20
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來(lái)實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶(hù)方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時(shí)間:2024-12-20
韓國(guó)Ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
韓國(guó)ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類(lèi)型。
更新時(shí)間:2024-12-20
美國(guó) MMR 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
美國(guó) mmr 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測(cè)量技術(shù)測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類(lèi)型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場(chǎng)三部分。
更新時(shí)間:2024-12-20
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時(shí)間:2024-12-20
德國(guó)Mecwins 掃描式激光分析儀
德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時(shí)間:2024-12-20
美國(guó)NANOVEA三維表面形貌儀
美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
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德國(guó)YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測(cè)設(shè)備
德國(guó) yxlon 高分辨率ｘ射線檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測(cè)器（標(biāo)配）
更新時(shí)間:2024-12-20
美國(guó)Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
更新時(shí)間:2024-12-20
美國(guó)Royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)
美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時(shí)間:2024-12-20
美國(guó)RTI自動(dòng)特性圖示儀
美國(guó)rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個(gè)性?xún)r(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel，提供4種型號(hào)可供客戶(hù)選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專(zhuān)用夾具連接的接口。
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德國(guó)Klocke Nanotech 3D納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x
德國(guó)klocke nanotech納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x3d nanofinger，是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測(cè)量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測(cè)量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進(jìn)行在線檢測(cè)、質(zhì)量控制等。
更新時(shí)間:2024-12-20

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