一、儀器規(guī)格參數(shù)
G5U-PH激光干涉儀是G10U-PH的高分辨率升級版,為3D屏及全面屏攝像孔檢測而定制,可以滿足更大的透過波前PV值的測量。
儀器規(guī)格參數(shù)表
硬件部分:
產(chǎn)品型號 | G5U-PH |
產(chǎn)品名稱 | 5mm正立式激光干涉儀 |
測試口徑 | Φ5mm |
輔助對準口徑 | Φ30mm |
標準鏡面形精度 | λ/20 |
光源 | 進口He-Ne激光器(632.8nm) |
光路切換 | 輔助觀察(Φ30mm大視場)與測試(Φ5mm小視場)模式電控切換 |
電源 | AC220V50HZ |
軟件部分:
軟件名稱 | 移相算法(簡稱PH) |
分析項目 | 透過波前PV值、平行度Tilt值等 |
測試重復性 | PV:0.01λ RMS:0.003λ |
測試允許誤差 | PV<1λ時 PV:0.05λ Tilt:0.2fr(零場調(diào)整為1根條紋) 1λ<PV<2λ時 PV:0.1λ Tilt:0.5fr(零場調(diào)整為1根條紋) 2λ<PV<3λ時 PV:0.2λ Tilt:1fr(零場調(diào)整為1根條紋) |
測試時間 | 1.5~2秒 |
產(chǎn)品型號 | S5U-PH |
產(chǎn)品名稱 | 5mm正立式激光干涉儀 |
測試口徑 | Φ5mm |
輔助對準口徑 | Φ30mm |
標準鏡面形精度 | λ/20 |
光源 | 進口半導體激光器(635nm) |
光路切換 | 輔助觀察(Φ30mm大視場)與測試(Φ5mm小視場)模式電控切換 |
電源 | AC220V50HZ |
軟件名稱 | 移相算法(簡稱PH) |
分析項目 | 透過波前PV值、平行度Tilt值等 |
測試重復性 | PV:0.01λ RMS:0.003λ |
測試允許誤差 | PV<1λ時 PV:0.05λ Tilt:0.2fr(零場調(diào)整為1根條紋) 1λ<PV<2λ時 PV:0.1λ Tilt:0.5fr(零場調(diào)整為1根條紋) |
測試時間 | 1.5~2秒 |
配置方式 | |
立式、臥式配置 平面總成,球面總成 靜態(tài)測量,相位移調(diào)制測量 | |
附件 | |
標準平面和球面參照鏡 與ZYGOTM參照鏡相容 標準衰鏡 干涉儀支撐/調(diào)整用四腳座 水平五軸調(diào)整座 | |
IntelliWave TM分析 | |
Windows XP系統(tǒng) 干涉條紋靜態(tài)與相位移調(diào)制分析 完整的分析工具,包括統(tǒng)計資料、像差 繞射分析、影像加工、以及幾何影像轉(zhuǎn)換 干涉圖轉(zhuǎn)換成光學(OPD)或表面地圖(surface map) 自動反復測量或自動化分析功能 相互連接Lab VIEW 、Research Systems IDL 、Math Work、Matlab和Microsoft Excel軟件 1 蜂谷值(PV ,Peak-to-Valley) 是取得長度上,測量高度最高點與最低點間的距離 2 均方根值(RMS,Root-Mean-Square)是取樣長度上,距離高度中心線的均方根偏差值。 3 三平面檢定方(3-Flat Test )最使用三個平面參照鏡相互檢測的測量方式。 4 重復性(Repeatability)的定義:對相同的組件進行100次量測,而每組量數(shù)據(jù)是由20個數(shù)據(jù)平均后取得,100組測數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析,定義重復性即是一個標準差值。 | |
型號 | AK-40 Fizeau type |
激光光源 | |
波長/ 功率 | He-Ne ,632.8nm , 0.7mw |
測量光束直徑 | 15英寸(38mm) |
偏振性 | 圓偏振動(Circular Polarization) |
相干長度 | >100公尺 |
控制方式 | |
觀察調(diào)整 | 4On/off 開關(guān) |
變焦 | 旋轉(zhuǎn)度盤 |
對焦調(diào)整 | 旋轉(zhuǎn)鈕 |
光強調(diào)整 | 旋轉(zhuǎn)鈕 |
模式切換 | 手動切換 |
光 學 部 分 | |
變焦范圍 | 1X—6X |
對準調(diào)整 | 二點調(diào)整 |
觀察調(diào)整角 | ±1.8度 |
預熱時間 | < 30分鐘 |
視頻規(guī)格 | |
攝像機 | RS170, 640X480像素 |
顯示器 | 計算機含LCD屏幕或視頻監(jiān)視器 |
電氣部份 | |
電 源 | 110/240 Volts ,50/60Hz (50 watts) |
機械部份 | |
尺寸 | 120*120*250mm |
重量 | 6 kg |
測量性能(應用 IntelliWAare TM軟件量結(jié)果) | |
系統(tǒng)準確度(三平面檢定法)(3) | λ/100 , 峰谷值(1) |
峰谷值重復性(4)(PV Repeatability) | λ/3 00 , 峰谷值(1) |
均方值重復性能(2)(4)(RMS Repeatability) | λ/2,000 |
干涉條紋解像度(Fringe Resolution ) | 180條 |
SJ6000采用高穩(wěn)頻氦氖激光器、激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)、高精度環(huán)境補償模塊、 幾何參量干涉光路設(shè)計、高精度激光干涉信號處理系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)各種參數(shù)的高精度測量。通過激光熱穩(wěn)頻控制技術(shù),實現(xiàn)快速(5~10 分鐘)、高精度(0.05ppm)、抗干擾能力強、長期穩(wěn)定性好的激光頻率輸出,采用不同的光學鏡組與激光配合,得到不同的干涉信號,然后通過高精度激光 干涉信號處理系統(tǒng)得到干涉數(shù)據(jù),將數(shù)據(jù)通過計算機進行顯示和動態(tài)分析。
使用時,操作者先按照設(shè)計的幾何光路安裝相配合的鏡組,幾何光路是以邁克爾遜型激光干涉儀原理為基礎(chǔ)設(shè)計的,下圖是邁克爾遜干涉儀的基本原理圖:
邁克爾遜干涉儀的原理是一束入射光分為兩束后各自被對應的平面鏡反射回來,這兩束光從而能 夠發(fā)生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調(diào)整干涉臂長度以及改變介質(zhì)的折射率來實現(xiàn),從而形成不同的干涉圖樣。干涉條紋是等光程差點的軌跡,因此,要 分析某種干涉產(chǎn)生的圖樣,必求出相干光的光程差位置分布函數(shù)。
搭建好幾何光路后,在檢定軟件上設(shè)定測量的開始、結(jié)束位置,點擊“開始”按鈕,軟件界面會實時顯示測量所得動態(tài)數(shù)據(jù);掃描結(jié)束后,操作者可通過對測量所得 數(shù)據(jù)曲線進行分析,得到如長度、角度、直線度、垂直度、平面度等參數(shù)。并根據(jù)系統(tǒng)內(nèi)置的檢測標準對被測件的各項參數(shù)進行合格判定,檢測結(jié)束后自動生成檢定 結(jié)果。
二、特點優(yōu)勢 三、技術(shù)參數(shù)1 | 線性測長距離 | 40m |
2 | 線性測長精度 | ±(0.02+0.5L)um |
3 | 激光穩(wěn)頻精度 | 0.05ppm |
4 | 分辨率 | 0.001um |
5 | *大測量速度 | 4.0m/S |
6 | 動態(tài)采集頻率 | 50KHZ |
7 | 預熱時間 | 5~10分鐘 |
8 | 環(huán)境補償精度 | 空氣壓力:±1.0mBar, 空氣濕度:±6%, 材料溫度:±0.1℃ |
9 | 基本重量(含三腳架,包裝) | 15Kg |
He-Ne激光器的穩(wěn)頻。線偏振光、圓偏振光、晶體雙折射,1/4波片、1/2波片。偏振光的分解與合成。邁克爾遜干涉儀,壓電效應,偏振分光棱鏡,角錐棱鏡。圓偏振光干涉,干涉信號的拾取與處理。微小位移的精密測量。
擴展內(nèi)容:
配套軟件,可以實時快捷的對測量結(jié)果進行數(shù)據(jù)處理。步進電機驅(qū)動的電動位移臺可以模擬大位移量測量、二次開發(fā)專用附件可以實現(xiàn)直線性、平面度、角度、垂直度等幾何量的測量。
產(chǎn)品簡介 |
隨著精密機械零件的要求在繼續(xù)增加,Agilent 5529A動態(tài)校準系統(tǒng)能幫助機床用戶獲得成功。Agilent 5529A為機床制造商和用戶提供測量機床定位和精度的基本部件;用經(jīng)補償?shù)臄?shù)據(jù)校準機床的定位誤差;診斷幾何形狀問題;以及符合7種國際標準的機床性能文檔。 您可用Agilent 5529A選擇全套校準部件,包括激光源、校準器和材料補償板、材料和空氣傳感器、光纖套件、電纜和附件。您也可選擇3種預配置系統(tǒng)(不包括光纖)。 Agilent 5529B基本系統(tǒng):包括激光源、校準器和材料補償板、材料和空氣傳感器、電纜和附件。 Agilent 5529V Vectra系統(tǒng):包括校準器和材料補償板、HP Vectra PC和super VGA顯示。 Agilent 5529U升級系統(tǒng):包括校準器和材料補償板、適配器電纜,您能從Agilent 5528A升級到Agilent 5529A。 |
特性: |
l 專利Agilent激光管設(shè)計,性MTBF大于 50,000 小時 l 用戶友好的Windows軟件 l 文檔使用8種語言:英語、法語、德語、意大利語、日語、西班牙語,以及簡體和繁體漢語 l 符合7種國際標準: NMTBA, BDI/DGQ 3441, ANSI B5.54, BSI 3800, ESO 230-2, JIS, 和 GB 10931-89 l 在線幫助 如果需要詳細的資料請發(fā)Email:xie_feng79@163.com |
產(chǎn)品功能 定位精度、重復定位精度、位移距離測量、速度加速度測量、線性度、直線度、垂直度、平面度、偏擺角、俯仰角、滾動角、角速度、圓形軌跡、微振動測量,還能夠測量數(shù)控機床回轉(zhuǎn)臺的定位精度和重復定位精度等,從而實現(xiàn)定位、校準、控制和補償。ZLM700主要用于單軸系統(tǒng)的校準和測量,廣泛應用于高速動態(tài)加工工藝中的機械定位和系統(tǒng)控制。性能優(yōu)勢
技術(shù)參數(shù)
型號:ZLM700 | 使用高性能數(shù)據(jù)處理器AE950 PCI |
He-Ne激光平均波長: | 632.8 nm |
激光穩(wěn)頻精度: | 一小時2x10-9(±0.002ppm) 壽命內(nèi)2x10-8(±0.02ppm) |
系統(tǒng)精度(0-40℃時): | ±0.4ppm |
光束直徑: | 6mm (可選3.2mm) |
激光管突發(fā)最大輸出功率: | 1mW (激光等級2) |
每束光可測量的軸數(shù): | 1 |
線性測量距離: | 40m,可擴展為120m |
角度測量范圍: | ± 15°,20m軸線范圍 |
平面度測量范圍: | 20m行程 |
直線度測量范圍: | ± 5mm,2m或10m行程, 選用角度干涉儀可測30m行程 |
垂直度測量范圍: | ± 5mm,2m或10m行程, 30m行程需用角度干涉儀 |
最大速度: | 4m/s,可選16m/s 80rad/s,角速度 |
最大加速: | 無限制 |
采樣頻率: | 內(nèi)部1MHz,外部40MHz |
預熱時間: | 10分鐘 |
精度/非線性: | ±0.3nm (角隅反射鏡) ±0.1nm (平面反射鏡) |
距離測量分辨率: | 0.6nm (角隅反射鏡) 0.3nm (平面反射鏡) 0.1nm 可選 |
距離測量精度: (20°±0.5°) 使用AUK時 (20°±0.5°) 真空中時 | ±0.4ppm (μ/m) ±0.08 (±0.02)ppm (μ/m) |
線性度測量分辨率: | 0.6nm (角隅反射鏡) 0.3nm (平面反射鏡) 0.1nm 可選 |
線性度測量精度: (20°±0.5°) 使用AUK時 (20°±0.5°) 真空中時 | ±0.4ppm (μ/m) ±0.08 (±0.02)ppm (μ/m) |
速度測量精度: | ±0.5ppm實測值 |
角度測量分辨率: | 0.015μrad (3x10-3 弧秒) |
角度測量精度: | ±0.1ppm實測值 |
平面度測量分辨率: | 0.015μrad (3x10-3 弧秒) |
平面度測量精度: | ±0.2%實測值 ±0.05 弧度/米運行距離 |
直線度測量分辨率: | 36nm,10m行程 7.25nm,2m行程 |
直線度測量精度: | ±0.5%實測值,2m行程 ± 2.5%實測值,10m行程 |
垂直度測量分辨率: | 36nm,10m行程 7.25nm,2m行程 |
垂直度測量精度: | ±0.5%實測值2m,± 0.5弧秒* ±2.5%實測值10m,± 0.5弧秒* |
數(shù)據(jù)接口: | 積分信號 32 Bit (實時時間) Dt » 20 ns |
數(shù)據(jù)分析標準: | ISO230/VDI3441/VDI2617/NMTBA |
工作環(huán)境: | 溫度:15°C-30°C 濕度:<90%無冷凝 |
儲存環(huán)境: | 溫度:10°C-40°C 濕度:<95%無冷凝 |
應用光路圖
以上為直線度測量示意圖,包括水平方向直線度和垂直方向直線度
以上是平面度測量示意圖
以上是垂直度測量示意圖
以上是位移、線性度、速度、加速度、定位精度測量示意圖
以上是對角測量示意圖
以上是俯仰角測量示意圖
以上是偏擺角測量示意圖
以上是滾動角測量示意圖
以上是回轉(zhuǎn)臺定位精度測量示意圖
資料下載耶拿爾雙頻激光干涉儀樣本(中文).pdf激光干涉儀說明書(中文).pdf