型號:RL192519CM-8829S涂層測厚儀 | 型號:RL192574Surfix一體統(tǒng)計型 | 型號:RL192636Surfix BF分體式基本型涂層測厚儀 |
測量原理測量范圍誤差分辨率顯示小面積小曲率半徑小基體厚度校準(zhǔn)數(shù)據(jù)統(tǒng)計數(shù)據(jù)存儲報警數(shù)據(jù)接口環(huán)境溫度/表面溫度電源儀器尺寸探頭尺寸重量保護級別符合標(biāo)準(zhǔn) | F性:電磁N型:渦流0~1500μm±(1μm +3%)0.1um或小于讀數(shù)的千分之二四位數(shù)LCD顯示,背景光5mm×5mm凸面:3mm凹面:50mmF型:0.5mmN型:50μm廠家校準(zhǔn)、零校準(zhǔn)、標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)讀數(shù)個數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、值和小值,多10,000個多80個讀數(shù);統(tǒng)計數(shù)據(jù)上下限可調(diào),聲音報警紅外通訊0~50℃/150℃兩節(jié)5號電池,50小時壽命140×62×30mmΦ14×83mm200gIP52(防灰塵、防滴水)DIN、ISO、ATSM、BS |
測量原理1測量范圍誤差分辨率顯示小面積小曲率半徑1小基體厚度1校準(zhǔn)報警數(shù)據(jù)接口環(huán)境溫度/表面溫度電源儀器尺寸探頭尺寸重量保護級別符合標(biāo)準(zhǔn) | F性:電磁N型:渦流0~1500μm±(1μm +3%)0.1um或小于讀數(shù)的千分之二四位數(shù)LCD顯示,背景光5mm×5mm凸面:3mm凹面:50mmF型:0.5mmN型:50μm廠家校準(zhǔn)、零校準(zhǔn)、標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)上下限可調(diào),聲音報警紅外通訊0~50℃/150℃兩節(jié)5號電池,50小時壽命140×62×30mmΦ14×83mm200gIP52(防灰塵、防滴水)DIN、ISO、ATSM、BS |
一 、功能介紹 采用磁感應(yīng)原理,無損檢測技術(shù)等多項技術(shù),無需損傷被測體就能地測量出它的厚度. 本公司的涂層測厚儀采用進口工業(yè)級元件,穩(wěn)定性好,性高,測量誤差小,操作簡單。廣泛用于在防腐施工,制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域?蔁o損測量磁性金屬基體(如鋼、鐵)上非磁性覆蓋層的厚度(如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錮、錫、鎘等)二 、儀器特點 A、精小設(shè)計,攜帶方便B、操作簡單,操作過程有蜂鳴聲提示C、具有自動關(guān)機功能D、鐵基和非鐵基底材自動識別,E、公/英制單位轉(zhuǎn)換三 、技術(shù)參數(shù) A、測量范圍:0-1000/3000um(超過1000um要提前告知廠家)B、使用環(huán)境:溫度:0℃-50℃, 濕度:20%RH—90%RH,無強磁場環(huán)境下使用C、公英制轉(zhuǎn)換:um/mil轉(zhuǎn)換D、最薄基體:0.4mmE、測量精度:±1%-3%F、分辨率:0.1um/1umG、外形尺寸:130mm×75mm×35mmH、重量:180GI、電源:二節(jié)(5號)堿性電池四、標(biāo)準(zhǔn)配置 涂層測厚儀主機 1 臺鐵基金屬片 1 片膜片 4 片5號堿性電池 1 對說明書(內(nèi)附保修卡)1 本合格證 1 份保修期:一年免費保修。
電鍍層厚度分析儀器又叫膜厚儀,x射線測厚儀、涂鍍層測試儀,x-ray鍍層測試儀,xrf鍍層測厚儀。它已成為電子連接件,五金件,首飾加工件,汽車零部件加工、金屬電鍍工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
X射線是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。隨著技術(shù)的日益,特別是近年來引入微機技術(shù)后,X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用最廣泛的測厚儀器。工業(yè)X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現(xiàn)場測量等優(yōu)點,已在冶金、建材、地質(zhì)、環(huán)保、商檢、考古、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到迅速推廣和應(yīng)用。近幾年來X射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測量中應(yīng)用越來越廣泛。眾所周知,產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品質(zhì)量與性能相關(guān)的重要指標(biāo)。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法,能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求,并且具有無損、在線、簡便快速、可實現(xiàn)自動控制等特點。
X熒光鍍層厚度分析儀基本原理
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息,通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識,對每一種化學(xué)元素的原子來說,都有其特定的能級結(jié)構(gòu),其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,這時原子被激發(fā)了,處于激發(fā)態(tài)。此時,其他的外層電子便會填補這一空位,即所謂的躍遷,同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結(jié)構(gòu)都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,便可以確定相應(yīng)元素的存在,而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。
電鍍層測厚儀thick系列性能特點和優(yōu)勢:
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可精確定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結(jié)果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護
應(yīng)用領(lǐng)域黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。
分析案例:
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進行精確定位測試,其測試位置如圖。
分析結(jié)果:
天瑞一直于分析儀器事業(yè),相信天瑞會為電鍍行業(yè)的客戶提供有競爭力的解決方案和服務(wù)。
天瑞儀器作為一個集儀器研發(fā)、系統(tǒng)設(shè)計、產(chǎn)品生產(chǎn)、服務(wù)提供為一身的綜合性儀器供應(yīng)廠商,一直以來嚴(yán)格遵循“360°服務(wù)”的客戶服務(wù)理念,以提高顧客滿意度為根本目標(biāo),從服務(wù)力量、服務(wù)流程、服務(wù)內(nèi)容等各個方面為客戶提供的服務(wù)。 我公司為客戶提供技術(shù)咨詢、方案設(shè)計、技術(shù)交流、產(chǎn)品制造、系統(tǒng)集成、現(xiàn)場勘察、工程實施、技術(shù)培訓(xùn)、服務(wù)熱線、故障處理、回訪、巡檢等全過程、、全系列的服務(wù)。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質(zhì)量的服務(wù),更為客戶創(chuàng)造了更高的價值。“快速、、到位”的服務(wù)最短交貨時間最快安裝最短維修周期最長保修期最個性化服務(wù)維護費用。
產(chǎn)品型號:CM8825
(一體化傳感器涂層測厚儀)
詳細(xì)說明:
測量品種:銅、鎳、鉻、鋅、鎘、銀、金、多層鎳各層厚度及層間電位差! y量范圍:0.03μm~99.99μm 度:±10% 復(fù)現(xiàn)精度:<5% 電位測量范圍:-100mv~+400mv 電位測量精度:±5% 本產(chǎn)品榮獲國家輕工部科技成果三等獎。
HQT-IA 微電腦多功能電解測厚儀 特性表
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德國尼克斯 QuaNix 7500電鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Eban 4000 探頭技術(shù)參數(shù) | ||||||
型 號 | 探頭類型 | 主機類型 | 基 體 | 測量范圍 | 測量分辨率 | 測量精度 |
C4001 | 直探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | F | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4002 | 直角探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | F | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4003 | 直探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | F | 0-2000um 0-5mm | 1um 0.01mm | ±1-3% |
C4004 | 直探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | F | 0-20mm | 0.01mm | ±1-5% |
C4005 | 直探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | NF | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4006 | 直角探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | NF | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4007 | 直探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | NF | 0-2000um | 1um | ±1-3% |
C4008 | 直探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | FNF | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4009 | 直角探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | FNF | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4010 | 直探頭 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | FNF | F:0-2000um 0-5mm NF:0-2000um | 1um 0.01mm | ±1-3% |
C4101 | 直探頭 | 型 | F | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4102 | 直角探頭 | 型 | F | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4103 | 直探頭 | 型 | F | 0-2000um 0-5mm | 1um 0.01mm | ±1-3% |
C4104 | 直探頭 | 型 | F | 0-20mm | 0.01mm | ±1-5% |
C4105 | 直探頭 | 型 | NF | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4106 | 直角探頭 | 型 | NF | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4107 | 直探頭 | 型 | NF | 0-2000um | 1um | ±1-3% |
C4108 | 直探頭 | 型 | FNF | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4109 | 直角探頭 | 型 | FNF | 0-1000um | 1um | ±1-3% |
C4110 | 直探頭 | 型 | FNF | F:0-2000um 0-5mm NF:0-2000um | 1um 0.01mm | ±1-3% |
CA173 | 輕便打印機 | |||||
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