測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家

XRF鍍層測(cè)厚儀器
xrf鍍層測(cè)厚儀器在各行各業(yè)中都有廣泛應(yīng)用。在電子、航空、汽車等工業(yè)域,鍍層的質(zhì)量和厚度對(duì)產(chǎn)品的性能和壽命都有重要影響。而xrf鍍層測(cè)厚儀器具備無損測(cè)量、快速準(zhǔn)確等特點(diǎn),可以滿足不同行業(yè)對(duì)鍍層測(cè)厚的需求。
更新時(shí)間:2024-12-23
x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀
x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀:揭開神秘的光譜測(cè)量技術(shù)近年來,隨著科技的不斷發(fā)展,各種先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)紛紛涌現(xiàn)。其中,x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀成為了研究和工業(yè)界的熱門關(guān)注點(diǎn)。這一高精度的儀器,通過分析物體表面的x射線熒光發(fā)射,實(shí)現(xiàn)了對(duì)薄膜材料及其厚度的非接觸式測(cè)量。本文將深入探討x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀的原理、應(yīng)用場(chǎng)景以及優(yōu)勢(shì),帶您揭開這一測(cè)量技術(shù)的神秘面紗。
更新時(shí)間:2024-12-23
陶瓷表面金屬化測(cè)厚儀
陶瓷表面金屬化測(cè)厚儀:一種高精度、高效率的表面金屬化測(cè)量工具陶瓷材料一直以來都是工業(yè)生產(chǎn)中重要的材料之一,但由于其表面缺乏導(dǎo)電性,限制了其在某些域的應(yīng)用。為了解決這一問題,人們開始研究和應(yīng)用陶瓷表面金屬化技術(shù)。而在陶瓷表面金屬化的過程中,必須對(duì)金屬層的厚度進(jìn)行精確測(cè)量,以確保產(chǎn)品在質(zhì)量和性能上達(dá)到要求。
更新時(shí)間:2024-12-23
鍍錫膜厚檢測(cè)儀
鍍錫膜厚檢測(cè)儀是一種十分重要的工業(yè)設(shè)備,能夠準(zhǔn)確測(cè)量鍍錫膜的厚度,確保產(chǎn)品質(zhì)量。通過本文的全面解析和詳細(xì)操作指南,你將對(duì)鍍錫膜厚檢測(cè)儀有更深入的了解,能夠熟練使用它進(jìn)行測(cè)量工作。
更新時(shí)間:2024-12-23
鍍銀面厚度測(cè)量?jī)x
鍍銀面厚度測(cè)量?jī)x具有多項(xiàng)優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)。先,它具有高精度和高穩(wěn)定性,能夠滿足不同行業(yè)對(duì)鍍銀層厚度測(cè)量的需求。其次,它操作簡(jiǎn)便,不需要復(fù)雜的人工操作和調(diào)試,減少了人力成本和時(shí)間成本。再次,它具有數(shù)據(jù)可視化和實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)功能,能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決問題,保證生產(chǎn)過程的穩(wěn)定性和高效性。此外,鍍銀面厚度測(cè)量?jī)x還可以與其他設(shè)備進(jìn)行聯(lián)網(wǎng),實(shí)現(xiàn)智能化生產(chǎn)和遠(yuǎn)程監(jiān)控。
更新時(shí)間:2024-12-23
鍍銀銀層厚度測(cè)試儀
鍍銀銀層厚度測(cè)試儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時(shí),動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí),要注意樣品的潔凈,不可使塵粒掉入其中,否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口,造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞;同時(shí),還要注意輕拿輕放(使用鑷子等器具取放樣品),以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
更新時(shí)間:2024-12-23
鋁鍍銀厚度檢測(cè)儀
鋁鍍銀厚度檢測(cè)儀是一種具備精準(zhǔn)測(cè)量功能的先進(jìn)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于鋁鍍銀行業(yè)。其高精度、快速測(cè)量的特點(diǎn),使其成為生產(chǎn)制造過程中的得力助手。相信隨著科技的不斷進(jìn)步,鋁鍍銀厚度檢測(cè)儀能夠在更多域發(fā)揮重要作用,為產(chǎn)業(yè)升和技術(shù)創(chuàng)新提供有力支持。
更新時(shí)間:2024-12-23
陶瓷金屬化膜厚儀
陶瓷金屬化膜厚儀是一種先進(jìn)的儀器設(shè)備,廣泛應(yīng)用于陶瓷行業(yè)、金屬加工等域。它不僅能夠準(zhǔn)確測(cè)量陶瓷金屬化膜的厚度,還具備快速、便捷、精準(zhǔn)的優(yōu)勢(shì)。本文將為您深入解析陶瓷金屬化膜厚儀的原理、功能以及使用技巧,助您邁向成功!陶瓷金屬化膜厚儀的原理及構(gòu)成
更新時(shí)間:2024-12-23
熒光x射線鍍層測(cè)厚儀
熒光x射線鍍層測(cè)厚儀是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、制造業(yè)以及研發(fā)域的先進(jìn)儀器。它具備高精度、高速測(cè)量以及非破壞性測(cè)試的特點(diǎn),可用于測(cè)量各種涂層的厚度,如金屬、陶瓷、聚合物等。本文將詳細(xì)介紹熒光x射線鍍層測(cè)厚儀的原理、應(yīng)用域以及使用方法,幫助讀者更加深入了解這個(gè)儀器的強(qiáng)大功能。
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天瑞鍍層檢測(cè)儀
天瑞鍍層檢測(cè)儀是一款先的科技產(chǎn)品,通過其獨(dú)特的設(shè)計(jì)和先進(jìn)的技術(shù),為企業(yè)解決了鍍層質(zhì)量檢測(cè)的難題。它能夠準(zhǔn)確快速地檢測(cè)出鍍層的厚度、均勻性以及附著力等關(guān)鍵指標(biāo),幫助企業(yè)實(shí)現(xiàn)精確的質(zhì)量控制。下面我們將詳細(xì)介紹天瑞鍍層檢測(cè)儀的技術(shù)特點(diǎn)和功能。
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天瑞鍍層測(cè)厚儀
天瑞鍍層測(cè)厚儀是一種先進(jìn)的工業(yè)儀器,用于測(cè)量各種材料表面的涂層厚度。它利用先進(jìn)的技術(shù)和精密的計(jì)量原理,能夠準(zhǔn)確測(cè)量涂層的厚度,為各行業(yè)提供可靠的定量分析數(shù)據(jù)。本文將深入探討天瑞鍍層測(cè)厚儀的原理、應(yīng)用域以及其在工業(yè)生產(chǎn)中的重要性。
更新時(shí)間:2024-12-23
工業(yè)x光測(cè)厚儀
工業(yè)x光測(cè)厚儀是通過通過對(duì)物體內(nèi)部的x射線的吸收情況進(jìn)行分析,從而得出材料的厚度。它采用了先進(jìn)的x射線探測(cè)技術(shù),通過儀器內(nèi)的高精度傳感器獲取被測(cè)材料的特征數(shù)據(jù),經(jīng)過計(jì)算和分析,終得出準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。
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熒光測(cè)厚儀 x-ray
在熒光測(cè)厚儀 x-ray的工作原理中,使用了x射線的特性。x射線是一種高能電磁波,它可以穿透物體,同時(shí)被物體內(nèi)的不同材質(zhì)吸收不同程度。熒光測(cè)厚儀 x-ray利用這一原理,通過測(cè)量x射線的透射和吸收情況,來推導(dǎo)出物體的厚度。在測(cè)量過程中,熒光測(cè)厚儀 x-ray結(jié)合了先進(jìn)的圖像采集和處理技術(shù)。
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凹槽鍍金膜厚儀
凹槽鍍金膜厚儀是當(dāng)市場(chǎng)上一種非常重要的儀器設(shè)備。它能夠非常準(zhǔn)確地測(cè)量金屬表面的鍍金膜厚度,為工業(yè)生產(chǎn)提供了重要的技術(shù)支持。在本文中,我們將詳細(xì)介紹凹槽鍍金膜厚儀的工作原理、應(yīng)用域以及市場(chǎng)景。
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天瑞鍍金膜厚儀
天瑞鍍金膜厚儀是一種高精度的測(cè)試儀器,用于測(cè)量鍍金膜的厚度。在電子、光學(xué)和材料科學(xué)域得到了廣泛的應(yīng)用。本文將深入探討天瑞鍍金膜厚儀的原理、功能和優(yōu)勢(shì),帶你了解這項(xiàng)高科技儀器的應(yīng)用景。
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鍍金層厚度用膜厚儀測(cè)試
鍍金層厚度用膜厚儀測(cè)試揭秘:業(yè)技術(shù)解讀與實(shí)踐指南在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,鍍金層厚度的控制是至關(guān)重要的。然而,要準(zhǔn)確測(cè)量鍍金層的厚度并不是一件容易的事情。為了解決這個(gè)問題,膜厚儀誕生了。本文將從膜厚儀的原理、使用方法、優(yōu)勢(shì)等方面,詳細(xì)介紹如何利用膜厚儀來測(cè)試鍍金層厚度,并給出實(shí)踐指南,幫助讀者更好地應(yīng)用于實(shí)際生產(chǎn)中。
更新時(shí)間:2024-12-23
化學(xué)xrf測(cè)厚儀
化學(xué)xrf測(cè)厚儀是一種先進(jìn)的測(cè)試儀器,廣泛應(yīng)用于化工、冶金、電子、航空航天等域。它不僅可以準(zhǔn)確測(cè)量各種材料的厚度,還可以分析材料的成分和結(jié)構(gòu),為科學(xué)研究和生產(chǎn)實(shí)踐提供有力支持。本文將詳細(xì)介紹化學(xué)xrf測(cè)厚儀的原理、應(yīng)用、使用注意事項(xiàng)等方面的內(nèi)容,為讀者帶來全面而深入的了解。
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化學(xué)鍍鎳層測(cè)厚儀
化學(xué)鍍鎳層測(cè)厚儀:解讀精確測(cè)量技術(shù)在現(xiàn)代工業(yè)制造中,化學(xué)鍍鎳層的使用非常廣泛。鍍鎳層不僅可以提供耐腐蝕、美觀的外觀,還能改善材料的硬度和耐磨性。然而,鍍鎳層的厚度對(duì)其性能起著至關(guān)重要的作用。為了保證鍍鎳層質(zhì)量的穩(wěn)定和可靠,業(yè)的測(cè)厚儀器成為必不可少的工具。
更新時(shí)間:2024-12-23
蘇州鍍層厚度檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家
蘇州鍍層厚度檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家標(biāo)準(zhǔn)配置開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和x光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
更新時(shí)間:2024-12-23
中磷鎳厚度檢測(cè)儀
中磷鎳厚度檢測(cè)儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析;軟件可分析5層25種元素鍍層;通過軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái),實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求;配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器,實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析;內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶觀測(cè)樣品狀態(tài);
更新時(shí)間:2024-12-23
X射線國(guó)產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀
x射線國(guó)產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀:thick800a測(cè)定步驟:步:新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步:確定測(cè)試時(shí)間:40s第三步:測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差
更新時(shí)間:2024-12-23
x射線鍍層測(cè)厚分析儀
x射線鍍層測(cè)厚分析儀應(yīng)用域?qū)I(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)?蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2024-12-23
銅母排鍍錫層測(cè)厚儀
銅母排鍍錫層測(cè)厚儀型號(hào):thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾(u)。同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互立的基體效應(yīng)校正模型。
更新時(shí)間:2024-12-23
鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀
鋁合金鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和x光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時(shí)間:2024-12-23
五金件鍍銀無損測(cè)厚儀
五金件鍍銀無損測(cè)厚儀測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度9.超大樣品腔10 .小孔準(zhǔn)直器
更新時(shí)間:2024-12-23
鍍層厚度熒光檢測(cè)儀
鍍層厚度熒光檢測(cè)儀型號(hào):thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾(u)。同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
更新時(shí)間:2024-12-23
X射線鍍層無損光譜儀
x射線鍍層無損光譜儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時(shí),動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí),要注意樣品的潔凈,不可使塵粒掉入其中,否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口,造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞;同時(shí),還要注意輕拿輕放(使用鑷子等器具取放樣品),以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
更新時(shí)間:2024-12-23
高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層檢測(cè)儀
高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層檢測(cè)儀定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭良好的射線屏蔽作用
更新時(shí)間:2024-12-23
光譜鍍銀層測(cè)厚儀
光譜鍍銀層測(cè)厚儀thick800a是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
更新時(shí)間:2024-12-23
led支架鍍銀層測(cè)厚儀
性能特點(diǎn)led支架鍍銀層測(cè)厚儀滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置是被測(cè)點(diǎn)
更新時(shí)間:2024-12-23
測(cè)試電鍍層厚度儀器
測(cè)試電鍍層厚度儀器滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置是被測(cè)點(diǎn)
更新時(shí)間:2024-12-23
金層x射線鍍層測(cè)厚儀
金層x射線鍍層測(cè)厚儀:thick800a測(cè)定步驟:步:新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步:確定測(cè)試時(shí)間:40s第三步:測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差
更新時(shí)間:2024-12-23
金屬電鍍層厚度測(cè)厚儀
金屬電鍍層厚度測(cè)厚儀型號(hào):thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾(u)。同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序
更新時(shí)間:2024-12-23
鈦鍍鉑測(cè)厚儀
thick800a鈦鍍鉑測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),研發(fā)生產(chǎn)的用于鍍層行業(yè)的一款無損測(cè)試儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中應(yīng)用廣泛。
更新時(shí)間:2024-12-23
鋅鍍銅鍍鎳熒光無損測(cè)厚儀
鋅鍍銅鍍鎳熒光無損測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)樣品處理方法簡(jiǎn)單或無處理可快速對(duì)樣品做定性分析對(duì)樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析譜線峰背比高,分析靈敏度高不破壞試樣,無損分析
更新時(shí)間:2024-12-23
塑料鍍銅測(cè)厚儀
塑料鍍銅測(cè)厚儀應(yīng)用域?qū)I(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)?蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2024-12-23
鍍層xrf光譜儀
edx 600 plus鍍層xrf光譜儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)?蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2024-12-23
黃銅鍍鎳鍍金測(cè)厚儀
黃銅鍍鎳鍍金測(cè)厚儀應(yīng)用域?qū)I(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)?蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2024-12-23
鐵鍍銅鍍鎳鍍錫測(cè)厚儀
鐵鍍銅鍍鎳鍍錫測(cè)厚儀滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
更新時(shí)間:2024-12-23
可伐合金鍍鎳鍍鉻測(cè)厚儀
可伐合金鍍鎳鍍鉻測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)樣品處理方法簡(jiǎn)單或無處理可快速對(duì)樣品做定性分析對(duì)樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析譜線峰背比高,分析靈敏度高不破壞試樣,無損分析試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)
更新時(shí)間:2024-12-23
塑料鍍銅鍍鎳鍍鉻測(cè)厚儀
多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。塑料鍍銅鍍鎳鍍鉻測(cè)厚儀電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸: 576(w)×495(d)×545(h) mm樣品室尺寸:500(w)×350(d)×140(h) mm重量:90kg
更新時(shí)間:2024-12-23
鋅鍍銅鍍錫測(cè)厚儀器
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序鋅鍍銅鍍錫測(cè)厚儀器度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸: 576(w)×495(d)×545(h) mm樣品室尺寸:500(w)×350(d)×140(h) mm
更新時(shí)間:2024-12-23
陶瓷鍍銅鍍金測(cè)厚儀
陶瓷鍍銅鍍金測(cè)厚儀型號(hào):thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾(u)。同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
更新時(shí)間:2024-12-23
黃銅鍍銅測(cè)厚儀
黃銅鍍銅測(cè)厚儀應(yīng)用域?qū)I(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2024-12-23
可伐合金鍍鎳測(cè)厚儀
可伐合金鍍鎳測(cè)厚儀應(yīng)用域?qū)I(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)?蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2024-12-23
陶瓷鍍銅鍍鎳測(cè)厚儀
陶瓷鍍銅鍍鎳測(cè)厚儀開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和x光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
更新時(shí)間:2024-12-23
銅鍍鋅測(cè)厚儀
銅鍍鋅測(cè)厚儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析;軟件可分析5層25種元素鍍層;通過軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái),實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求;配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器,實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析;
更新時(shí)間:2024-12-23
鐵鍍銅測(cè)厚儀
鐵鍍銅測(cè)厚儀滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)鐵鍍銅測(cè)厚儀采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
更新時(shí)間:2024-12-23
磷銅鍍鎳鍍銀測(cè)厚儀
磷銅鍍鎳鍍銀測(cè)厚儀:thick800a測(cè)定步驟:步:新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步:確定測(cè)試時(shí)間:40s第三步:測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差
更新時(shí)間:2024-12-23
鐵鍍銅鍍鎳鍍鉻測(cè)厚儀
鐵鍍銅鍍鎳鍍鉻測(cè)厚儀開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和x光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。si-pin探測(cè)器。高低壓電源。
更新時(shí)間:2024-12-23

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