溫度沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品及廠(chǎng)家
箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱先進(jìn)可靠的冷凍及控制系統(tǒng)：原裝進(jìn)口歐美全封閉壓縮機(jī)，進(jìn)口環(huán)保冷媒，世界知名品牌的冷凍器件，原裝進(jìn)口lcd觸摸屏控制器，界面友好，操作簡(jiǎn)單易學(xué)。
更新時(shí)間:2024-12-23
散熱風(fēng)扇用冷熱沖擊試驗(yàn)箱平衡調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng)（bthc）,以p.i.d.方式控制ssr,使系統(tǒng)之加熱加濕量等于熱濕損耗量,故能長(zhǎng)期穩(wěn)定使用。
更新時(shí)間:2024-12-23
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱報(bào)價(jià)是根據(jù)容積大小，溫度范圍來(lái)報(bào)價(jià)的，不同容積大小，溫度范圍價(jià)格也是不一樣的
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可程序冷熱沖擊試驗(yàn)箱運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線(xiàn)顯示,發(fā)生異常狀況時(shí),螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置。
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塑料低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)是測(cè)定材料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，可以對(duì)塑料及其他彈性材料在低溫條件下的使用性能作比較性鑒定。因此無(wú)論在科學(xué)研究材料及其制品的質(zhì)量檢驗(yàn)，生產(chǎn)過(guò)程的控制等方面均是不可缺少的。本儀器是根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)符合gb5470-2008塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)方法等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求。本儀器再原有設(shè)計(jì)中，增加了冷井?dāng)嚢杵，使容器四周溫度更均勻，下降溫度更快，?jié)約時(shí)間，降低了能耗。
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電線(xiàn)電纜低溫脆性測(cè)試儀，電纜低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)，橡膠低溫脆性試驗(yàn)機(jī)儀器是根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)符合gb5470-2008塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)方法等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求。本儀器再原有設(shè)計(jì)中，增加了冷井?dāng)嚢杵，使容器四周溫度更均勻，下降溫度更快，?jié)約時(shí)間，降低了能耗。
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冷熱沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格，高低溫沖擊試驗(yàn)箱，溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于電子、汽車(chē)配件、塑膠等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊能力。冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)為待測(cè)品靜置之冷、熱交替沖擊方式,廣泛使用于電子零組件測(cè)試、半導(dǎo)體、金屬、化學(xué)、材料等測(cè)試設(shè)備。
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塑料低溫脆化試驗(yàn)機(jī)價(jià)格，橡膠低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)廠(chǎng)家，橡塑低溫沖擊槽是測(cè)定材料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，可以對(duì)塑料及其他彈性材料在低溫條件下的使用性能作比較性鑒定。
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塑料超低溫脆化沖擊測(cè)試儀，塑料低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)，橡膠低溫脆性試驗(yàn)裝置是測(cè)定材料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)符合gb5470-2008塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)方法等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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低溫塑料脆化沖擊測(cè)試儀，塑料超低溫沖擊測(cè)試儀，橡膠-80低溫脆性試驗(yàn)裝置設(shè)備采用復(fù)疊式壓縮機(jī)制冷技術(shù)，利用熱平衡原理及循環(huán)攪拌方式，達(dá)到對(duì)試樣的自動(dòng)均勻冷卻、恒溫。
更新時(shí)間:2024-12-23
塑料沖擊脆化溫度測(cè)定儀，塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)機(jī)，橡膠沖擊脆化溫度測(cè)試儀規(guī)格a：試樣的長(zhǎng)為20.0±0.25mm，寬為2.5±0.1mm，厚為2.0±0.1mm。b：試樣的長(zhǎng)為31.75±6.35mm，寬為6.35±0.51mm，厚為1.91±0.13mm
更新時(shí)間:2024-12-23
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更新時(shí)間:2024-12-23
-60度塑料沖擊脆化溫度測(cè)定儀，-50度塑料低溫沖擊脆化試驗(yàn)機(jī)哪家好，低溫沖擊脆化溫度實(shí)驗(yàn)儀器規(guī)格a：試樣的長(zhǎng)為20.0±0.25mm，寬為2.5±0.1mm，厚為2.0±0.1mm。b：試樣的長(zhǎng)為31.75±6.35mm，寬為6.35±0.51mm，厚為1.91±0.13mm
更新時(shí)間:2024-12-23
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電線(xiàn)電纜低溫脆化試驗(yàn)機(jī)，線(xiàn)纜材料低溫脆化試驗(yàn)儀是測(cè)定塑料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，可以對(duì)非硬質(zhì)塑料及其他彈性材料在低溫條件下的使用性能作比較性鑒定。
更新時(shí)間:2024-12-23
電線(xiàn)電纜低溫脆化試驗(yàn)儀，絕緣護(hù)套低溫脆化試驗(yàn)儀是測(cè)定塑料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，可以對(duì)非硬質(zhì)塑料及其他彈性材料在低溫條件下的使用性能作比較性鑒定。
更新時(shí)間:2024-12-23
塑料超低溫脆化試驗(yàn)儀，超低溫塑料脆化試驗(yàn)儀是測(cè)定塑料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，可以對(duì)非硬質(zhì)塑料及其他彈性材料在低溫條件下的使用性能作比較性鑒定。
更新時(shí)間:2024-12-23
塑料超低溫脆化試驗(yàn)儀，超低溫塑料脆化試驗(yàn)儀是測(cè)定塑料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，可以對(duì)非硬質(zhì)塑料及其他彈性材料在低溫條件下的使用性能作比較性鑒定。
更新時(shí)間:2024-12-23
塑料低溫脆性試驗(yàn)儀的價(jià)格，電纜護(hù)套超低溫脆性測(cè)試儀是測(cè)定塑料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，可以對(duì)非硬質(zhì)塑料及其他彈性材料在低溫條件下的使用性能作比較性鑒定。
更新時(shí)間:2024-12-23
本儀器是根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)符合gb/t15256硫化橡膠低溫脆性的測(cè)定(多試樣法)、gb1682、沖擊脆化溫度試驗(yàn)方法等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求。
更新時(shí)間:2024-12-23
塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)試樣： a）沖頭半徑為1.6±0.1mm； b）鉗口半徑為4.0±0.1mm； c） 沖頭中心線(xiàn)與夾具間隙為3.6±0.1mm； d）沖頭的外側(cè)與夾具間隙為2.0±0.1mmb試樣： a）沖頭半徑為1.6±0.1mm； b）沖頭中心線(xiàn)與夾具間隙為7.87±0.25mm；c） 沖頭的外側(cè)與夾具間隙為6.3
更新時(shí)間:2024-12-23
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，溫循沖擊箱是模擬gb/t10589-2008低溫試驗(yàn)箱等技術(shù)條件；gb/t11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件制造，主要為航天、航kong、石油、化工、軍事、汽車(chē)（摩托車(chē)）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。
更新時(shí)間:2024-12-23
冷熱沖擊測(cè)試機(jī)，冷熱循環(huán)氣流儀適用于各類(lèi)半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、sfp 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2024-12-23
三箱高低溫沖擊箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱測(cè)試影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。
更新時(shí)間:2024-12-23
兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱，高低溫提籃沖擊箱是模擬gb/t10589-2008低溫試驗(yàn)箱等技術(shù)條件；gb/t11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車(chē)（摩托車(chē)）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。
更新時(shí)間:2024-12-23
高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子、汽車(chē)配件、塑膠等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊能力。檢測(cè)產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。
更新時(shí)間:2024-12-23
超低溫沖擊箱，-100~100度高低溫沖擊箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
更新時(shí)間:2024-12-23
超快速高低溫沖擊儀（也稱(chēng)為熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)）適用于各類(lèi)半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、sfp 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體、芯片、傳感器、微電子等域。在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害
更新時(shí)間:2024-12-23
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)主要用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、bga、pcb基扳、電子芯片ic、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,通過(guò)測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的ic到重機(jī)械的組件，作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
更新時(shí)間:2024-12-23
超快速高低溫沖擊儀（也稱(chēng)為熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)）適用于各類(lèi)半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、sfp 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體、芯片、傳感器、微電子等域。在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害
更新時(shí)間:2024-12-23
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