BM-54XAC電腦型工業(yè)檢測顯微鏡技術(shù)參數(shù): | ||||||||||||||||||||||||||||||||
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光學(xué)系統(tǒng) | UIS2光學(xué)系統(tǒng)(無限遠校正) | |||
機身 | 觀察方法 | 明視場/暗視場/微分干涉/簡易偏振光/熒光 | ||
反射/透射 | 反射/透射 | |||
照明裝置 | 6單元轉(zhuǎn)臺切換 | |||
照明系統(tǒng) | 反射照明 | 100 W鹵素/100 W水銀/75 W氙 | ||
透射照明 | 100 W鹵素 | |||
對焦單元 | 電動/手動 | 手動 物鏡轉(zhuǎn)換器上下移動式(載物臺固定式) | ||
行程 | 9 mm | |||
微調(diào)靈敏度 | 微調(diào)旋鈕轉(zhuǎn)動1周移動0.1 mm | |||
物鏡轉(zhuǎn)換器 | 電動型 | 明視場微分干涉6孔 明暗視場微分干涉5孔 | ||
手動式 | 明視場微分干涉中心輸出4孔 明視場微分干涉6孔 明暗視場5孔 明暗視場微分干涉5孔 明暗視場微分干涉中心輸出5孔 明暗視場微分干涉6孔 | |||
中間倍率 | 內(nèi)置變焦(1x~2x) | |||
照相機端口 | 正面端口(負像),橫向端口(負像) | |||
載物臺 | 行程 | 50(X)×50(Y)mm | ||
觀察筒 | 標(biāo)準(zhǔn)視場(視場數(shù)18) | 倒置 | - | |
標(biāo)準(zhǔn)視場(視場數(shù)20) | - | |||
廣角視場(視場數(shù)22) | 倒置 | - | ||
正像 | - | |||
超寬視場(視場數(shù)26.5) | 倒置 | 雙目/三目觀察筒 | ||
正像 | - | |||
選件 | 偏振光觀察單元 | |||
外形尺寸 | 280(W)×748(D)×445(H)mm | |||
重量 | 38 kg(標(biāo)準(zhǔn)組合) |
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BM-54XAC電腦型工業(yè)檢測顯微鏡技術(shù)參數(shù): | ||||||||||||||||||||||||||||||||
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BM-54XAV攝像型工業(yè)檢測顯微鏡技術(shù)參數(shù): | ||||||||||||||||||||||||||||||||
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BM-54XAS數(shù)碼型工業(yè)檢測顯微鏡技術(shù)參數(shù): | ||||||||||||||||||||||||||||||||
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型號:JX199952BM-54XAC電腦型工業(yè)檢測顯微鏡 | 型號:JX199950BM-54XAV攝像型工業(yè)檢測顯微鏡 | 型號:JX199951BM-54XAS數(shù)碼型工業(yè)檢測顯微鏡 |
◆ CF160平行光學(xué)
◆ 高對比的暗視野影像
◆ 物鏡之工作距離增加,應(yīng)用于(觀察磁頭或其他較厚的材料)
◆ 小體積較占空間且能夠應(yīng)用于8寸晶圓
◆ 防靜電設(shè)計特別對于(避免觀察磁頭或免玷污晶片)有所助益
◆ 人體工程學(xué)的設(shè)計增加舒適性以減少工作疲勞
◆ 的操作界面,將使用者的手部移動最小化
扎實的防震機體結(jié)構(gòu)“咖啡象”SGT-703
顯微鏡參數(shù): 總放大率:7X-40X 物 鏡:變倍范圍:0.7X-4X 變 倍 比:4.28∶1 工作距離:工作距離97mm 調(diào)焦范圍:≥40mm 物方視場:Φ25.70mm-Φ6mm 光 源:電光源,220V交流輸入,6V直流輸出,透射照明,
成像規(guī)格參數(shù):
傳感器: 1/2inch,高分辨率CMOS 圖片存儲分辨率:3264×2448 動態(tài)分辨率: 640×480 存儲速率: 25幀/秒 壓縮格式: JPEG格式 通訊方式: 支持USB2.0協(xié)議 信噪比: >48db 最小照明度: 3Lux 燈光頻率: 50Hz或60Hz 自動快門速度: 1/20~1/10000秒 存儲器件: 32MFLASH斷電不丟失圖片資料,自動白平衡控制,背景光自動補償 供電方式: 電源適配器供電或電腦USB供電兩種方式 a.電源適配器 工作電壓:AC180~240V/50~60HZ 輸出電壓:5V/300mA b.電腦USB口直接供電:5V/300mA