產品介紹
http://www.yxcly.com/
http://www.yxcly.com/xyggpy600.html
EDX 600——貴金屬檢測專家(可檢測金、銀、鉑、鈀等貴金屬),全球貴金屬行業(yè)檢測的經典款型。
EDX600是集多年貴金屬檢測技術和經驗,以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來能滿足貴金屬成分檢測的需要,人性化的設計,使測試工作更加輕松完成。 EDX600貴金屬檢測儀使用而實用的正比計數(shù)盒探測器,以實在的價格定位,滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求,且的更具有現(xiàn)代感的外形、結構及色彩設計,加上全軟件控制的自動調整移動平臺和切換準直器的裝置,使儀器操作更人性化、更方便。
應用領域:黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。 金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。 主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業(yè)。
性能特點:專業(yè)貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。 內置信噪比增強器可提高儀器信號處理能力25倍以上。 一次可同時分析24個元素 針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。 電制冷硅針半導體探測器,摒棄液氮制冷。 智能貴金屬檢測軟件,與儀器硬件相得益彰。 任意多個可選擇的分析和識別模型。 相互獨立的基體效應校正模型。 多變量非線性回收程序。
產品參數(shù):產品名稱: X熒光光譜儀 型號:EDX600輸入電壓:220±5V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源) 環(huán)境溫度:15℃—30℃ 環(huán)境濕度:35%—70%外形尺寸:500 mm×400mm×400mm 重量:30.5Kg
獨特配置:單樣品腔。 二維軟件控制自動移動樣品平臺。 激光定位裝置。
超高分辨率,世界: 采用世界上的SDD硅漂移探測器 ,分辨率為139±5ev ,而常規(guī)的Si-PIN探測器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
超高精確度,性能: 使用25mm2大面積鈹窗探測器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術,提高分析速度,總體提高系統(tǒng)處理能力,計數(shù)率最大可達8萬,比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭,精確定位: 采用新型工業(yè)級相機,樣品圖像更加清晰,輕松實現(xiàn)定位。
小準直器,輕松實現(xiàn)精小部位測試: 提供多種準直器,直徑最小達0.2mm,可輕松實現(xiàn)精小部位的精確測試,同時可根據(jù)測試需求電動切換準直器,使測量更加輕松更加。
一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱: FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線,操作一步到位。
技術參數(shù)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)分析檢出限可達ppm級分析含量一般為ppm到99.99%任意多個可選擇的分析和識別模型相互獨立的基體效應校正模型多變量非線性回歸程序溫度適應范圍為15℃至30℃電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源能量分辨率:139±5eV
儀器配置
移動樣品平臺信噪比增強器SDD探測器數(shù)字多道分析系統(tǒng)高低壓電源大功率X光管計算機及噴墨打印機 外觀尺寸: 550×416×333mm 樣品腔尺寸:460×298×98mm 質量:45Kg
應用領域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
性能特點
專業(yè)貴金屬檢測內置信噪比增強器,可有效提高儀器信號處理能力25倍以上智能貴金屬軟件,與儀器相得益彰任意多個可選擇的分析和識別模型多變量非線性回收程序
技術指標
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等X射線管:管電壓50KV,管電流1mA 可測元素:Ti~U 檢測器:正比計數(shù)管 樣品觀察:CCD攝像頭測定軟件:薄膜FP法、檢量線法 Z軸程控移動高度 20mm
標準配置
X射線管,正比記數(shù)盒,高清攝像頭,高度激光,信號檢測電子電路。
應用領域
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
X熒光光譜儀EDX860D
型 號:EDX860D
產品說明、技術參數(shù)及配置
本儀器專門針對貴金屬測試,可測試環(huán)形樣品內壁及普通平面測試,具有以下特點:體積小巧,外型莊重大方,手動升降平臺滿足不同大小樣品的測試,樣品固定方便快捷,可方便更換準直器,準直器直徑為1.5mm,可測試較小區(qū)域,下照式,大窗口正比計數(shù)盒計數(shù)率滿足分析需要,寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測試,攝像頭激光精確定位實現(xiàn)可視化定位,良好的射線屏蔽確保操作人員。
應用領域首飾加工廠 金銀珠寶首飾店 貴金屬冶煉廠 質量檢驗部門 分析測試中心 典當行
XRF檢測法與傳統(tǒng)檢測法比較
檢測法 | 結果 |
試金石法 | 主觀性強,不科學,性差 |
比重法 | 參照物的純度難以確定 |
化學法 | 成本高,操作復雜,對樣品有所損害 |
XRF分析法 | 快速、無損、科學、穩(wěn)定 |
核心技術
1.大功率光管;2. 超大窗口面積正比計數(shù)盒; 3. 外型小巧,莊重大方; 4. 寬闊樣品腔,方便操作及測試較大樣品; 5. 手動升降平臺確保測試不同大小環(huán)狀樣品; 6.小準直器,利于測試樣品小區(qū)域; 7. 攝像頭與激光定位,可視地定位到被測點,測試時激光點自動關閉,利于拍攝清晰照片; 8. 良好的射線屏蔽確保操作人員的安全。
儀器技術指標:
分析含量一般為1ppm到99.9%; 任意多個可選擇的分析和識別模型; 相互獨立的基體效應校正模型; 多變量非線性回歸程序; 多次測量重復性可達0.1%; 工作穩(wěn)定性為0.1%。 電源:交流220V±5V; 測量時間:60-200S 管壓:5-50KV 管流:50-1000μA 溫度適應范圍:15℃-30℃
標準配置:
正比計數(shù)盒;50W X光管; 高壓電源 50kV@1mA;攝像頭激光定位裝置; 高靈敏度信號檢測電子電路;手動升降平臺; 樣品夾;橡皮泥; 準直器直徑為1.5 mm。
主要特點 測試金屬種類: 鉛,銅,鎘,鋅,砷,汞。 Explorer II 特點: ● 測量結果快速 ● 與 ICP-MS (電感耦合等離子體質譜)具有極好的相關性(+/- 10%) ● TriTrode電極技術 - 減少了電極線纜與接口的連接,安裝快速、操作簡單。 - 單一連接具有更高穩(wěn)定性 - 電極清理和維護簡單、方便 ● 支持多種測量技術:溶出伏安法(Stripping voltammetry, SV),循環(huán)伏安法(Cyclic voltammetry , CV),安培測量法(Amperometric measurement),PH ,氧化還原電位(ORP),和離子電極(ISE)。 ● 基于Windows 系統(tǒng)的強大分析軟件, 用戶友好型界面。 ● 報告generation capability。 Nano-Band Explorer II 規(guī)格參數(shù): 電源 108-132VAC 60Hz 接變壓器。變壓器有NEMA 5-15 個插頭,可提供 +5V ,±12V 。聯(lián)合調度 ±5% 。功率:~1W 。 控制臺 臺式計算機或筆記本電腦 主機接口 串口,最大波特率:~120 kb 支持波特率:2.4kb,4.8kb,9.6kb,19.2kb,38.4kb,57.6kb和115.2kb 。 體積 20.6 cm × 25.4 cm × 6.9 cm 重量 儀器重:1.58 kg 操作環(huán)境 溫度:0 ℃ ~ 40 ℃ 相對濕度:20% ~ 90% 操作系統(tǒng) Windows 95/98/2000 ,Windows XP 數(shù)據(jù)格式 輸出為 Excel ,Matlab 表格形式 |
儀器介紹 Nano-Band Explorer II是科學研究和環(huán)境監(jiān)測的理想工具: 測試單一樣品時出現(xiàn)微小波動屬正,F(xiàn)象。 Explorer II系統(tǒng)包含了臺式分析儀(代實驗室型),測量快速、簡單。 Explorer II 配備有便攜式的存儲箱,可帶至現(xiàn)場進行測量 |
儀器介紹 本儀器專門針對貴金屬測試,可測試首飾內壁及不規(guī)則樣品,具有以下特點:體積小巧,優(yōu)美弧線造型;透明玻璃罩; 手動升降平臺滿足不同高度樣品的測試;多種樣品固定方式(萬能夾具,橡皮泥,樣品托板)滿足不同外型樣品的測 試;上照式,可方便更換準直器;準直器直徑為1mm可測試較小區(qū)域,大窗口正比計數(shù)盒計數(shù)率滿足分析需要;寬 闊樣品腔可滿足較大樣品的測試;攝像頭激光精確定位實現(xiàn)可視化,方便快速定位,良好的射線屏蔽確保操作人員安全。 性能特點 大功率光管; 超大窗口面積正比計數(shù)盒; 優(yōu)美弧線造型,典雅大方, 寬闊樣品腔,方便操作及測試較大樣品; 多種樣品夾持方式(萬能夾具,樣品托板,橡皮泥),可完成普通測試,內壁測試,不規(guī)則樣品測試; 手動升降平臺確保測試不同厚度的樣品; 小準直器,利于測試樣品小區(qū)域; 攝像頭與激光定位,可視地定位到被測點,測試時激光點自動關閉,利于拍攝清晰照片; 良好的射線屏蔽確保操作人員安全。 透明罩可透視清晰觀察測試過程; 技術指標 元素分析范圍從鉀(K)到鈾(U); 分析含量一般為1ppm到99.9%; 任意多個可選擇的分析和識別模型; 相互獨立的基體效應校正模型; 多變量非線性回歸程序; 多次測量重復性可達0.1%; 工作穩(wěn)定性為0.1%; 電源:交流220V±5V; 能量分辨率為:200±5eV 測量時間:60-200S 管壓:5-50KV 管流:50-1000μA 溫度適應范圍:15℃-30℃ 超大樣品腔:300X250X160mm 重量:39kg 外型尺寸:450X450X360mm 標準配置 正比計數(shù)盒; 50W X光管; 高壓電源輸出 50Kv@1mA; 攝像頭激光定位裝置; 高靈敏度信號檢測電子電路; 手動升降平臺; 萬能夾具; 橡皮泥; 準直器直徑為1.0。 應用領域 主要應用貴金屬測量,也可用于相關行業(yè)的鍍層測量、RoHS測試等。 需要對貴金屬進行X熒光分析的領域。 主要應用于首飾店貴金屬檢測。 |
X射線測金儀享有無損、快速、精確等特點,被廣泛用于首飾生產、加工、銷售、質檢等部門。近年來我公司開發(fā)生產的各類X射線測金儀已遠銷國內外,獲得普遍好評。特點無損檢測:被測金屬無論外觀、內在質量還是重量都不受任何損害測量范圍寬:各類黃金、白金及其他貴金屬合金都可測量測量速度快:根據(jù)測量要求,在幾秒到幾分鐘內可以得出測量結果測量進度高:測量誤差對純金在±0.3%, 對K金在±0.6%提供譜線重疊比較工具,便于用戶查明未知元素譜峰提供密度法復核軟件,可對本機測定結果進行復核規(guī)格光管:Mo靶X光管高壓電源: 40 KV, 1mA探測器:充氣正比計數(shù)管多道分析器:512道軟件:基于 Windows XP的應用軟件電源:交流 220V 50Hz體積:500mm x 480mm x 210mm重量:24Kg
性能優(yōu)勢
超高分辨率,世界: 采用世界上的SDD硅漂移探測器 ,分辨率為139±5ev ,而常規(guī)的Si-PIN探測器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
超高精確度,性能: 使用25mm 2大面積鈹窗探測器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術,提高分析速度,總體提高系統(tǒng)處理能力,計數(shù)率最大可達8萬,比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭,精確定位: 采用新型工業(yè)級相機,樣品圖像更加清晰,輕松實現(xiàn)定位。
小準直器,輕松實現(xiàn)精小部位測試: 提供多種準直器,直徑最小達0.2mm,可輕松實現(xiàn)精小部位的精確測試,同時可根據(jù)測試需求電動切換準直器,使測量更加輕松更加。
一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱: FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線,操作一步到位。
技術參數(shù)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)分析檢出限可達ppm級分析含量一般為ppm到99.99%任意多個可選擇的分析和識別模型相互獨立的基體效應校正模型多變量非線性回歸程序多次測量重復性可達0.02%(含量96%以上)工作穩(wěn)定性為0.05%(含量96%以上)溫度適應范圍為15℃至30℃電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源能量分辨率:139±5eV樣品腔尺寸:439mm×300mm×50mm儀器尺寸:550mm×410mm×320mm儀器重量:45kg
儀器配置
移動樣品平臺信噪比增強器SDD探測器數(shù)字多道分析系統(tǒng)高低壓電源大功率X光管計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測