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CH-10-A/AT橡膠塑料測(cè)厚儀

橡膠塑料測(cè)厚儀CH-10-A/AT有手提式,臺(tái)式兩種型號(hào).手提式:可隨身攜帶,手持測(cè)量,適用車間現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定.臺(tái)式:用于物理實(shí)驗(yàn)室作試樣測(cè)定.

技術(shù)參數(shù):

1.測(cè)量范圍:0-10mm

2.分度值:0.01mm

3.壓力:22Kpa(63g)(包括游絲彈力以及絲桿,測(cè)頭的總質(zhì)量)也可按用戶需要不要砝碼,以拉黃代替其砝碼重量

4.上測(cè)頭的直徑:φ6mm

電解測(cè)厚儀產(chǎn)品描述：測(cè)量原理利用法拉第原理設(shè)計(jì)，其過程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍。庫(kù)侖法測(cè)厚是對(duì)被測(cè)部分的金屬鍍層進(jìn)行局部陽(yáng)極溶解，通過陽(yáng)極溶解鍍層達(dá)到基體時(shí)的電位變化及所需時(shí)間來進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量測(cè)量鍍層鉻、鎳、銅、鋅、錫、銀、金、鎘等金屬鍍層，鎳合金鍍層，復(fù)合鍍層電腦電解測(cè)厚儀

簡(jiǎn)單介紹

電解測(cè)厚儀產(chǎn)品描述：測(cè)量方法陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法,符合ISO2177標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量原理利用法拉第原理設(shè)計(jì)，其過程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍。庫(kù)侖法測(cè)厚是對(duì)被測(cè)部分的金屬鍍層進(jìn)行局部陽(yáng)極溶解，通過陽(yáng)極溶解鍍層達(dá)到基體時(shí)的電位變化及所需時(shí)間來進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量

電解測(cè)厚儀的詳細(xì)介紹

電解測(cè)厚儀：測(cè)量基材金屬、塑膠等基材

測(cè)量鍍層鉻、鎳、銅、鋅、錫、銀、金、鎘等金屬鍍層，鎳合金鍍層，復(fù)合鍍層

（如Cr/Ni/Cu）

測(cè)量范圍 0~35 μm

分辨率金、裝飾鉻：0.01 μm，其他鍍層：0.1μm

不確定度 ≤±10%

測(cè)量尺寸標(biāo)準(zhǔn)型2100B：最小工件尺寸 φ2.5mm（5mm2）或φ6mm以上直徑工件

較小型2100S：最小工件尺寸 φ2mm（3mm2）或φ2.5mm以上直徑工件

電源交流220V±10%，50/60Hz，30W

電解測(cè)厚儀主機(jī)凈尺寸 210（W）×360（D）×85（H）mm

該公司產(chǎn)品分類：全自動(dòng)插拔力試驗(yàn)機(jī) 全自動(dòng)插拔試驗(yàn)柵拉力試驗(yàn)機(jī) 線材搖擺試驗(yàn)機(jī) 電解測(cè)厚儀恒溫恒濕機(jī) 振動(dòng)試驗(yàn)機(jī) 單雙臂跌落試驗(yàn)機(jī) 模擬汽車運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái) 鹽霧試驗(yàn)箱鹽霧試驗(yàn)機(jī)

TT130天津測(cè)厚儀

::: 簡(jiǎn) 介: :::::::::::::::::::::::::::::::::::::

一、產(chǎn)品概述

超聲波測(cè)厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。時(shí)代超聲波測(cè)量厚儀系列是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測(cè)量技術(shù)于一體的、的無損檢測(cè)儀器，采用微電腦對(duì)數(shù)據(jù)時(shí)行分析、處理、顯示，采用高度優(yōu)化的測(cè)量電路，具有測(cè)量精度高、范圍寬、操作簡(jiǎn)便、工作穩(wěn)定等特點(diǎn)。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。可以對(duì)各種板材和加工零件作精確測(cè)量，廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。本儀器顯示分辨率為0.01，可測(cè)量比TT100更為精密的工件。

二、功能特點(diǎn)

1、高分辨率：測(cè)量100mm以下工件時(shí)顯示分辨率為：0.01mm；2、自動(dòng)校對(duì)零點(diǎn)：可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；3、耦合提示、低電壓提示、4、關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)關(guān)機(jī)（無操作三分鐘后）；4、聲速調(diào)節(jié)：可利用已知厚度試塊測(cè)量聲速；5、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：可以存儲(chǔ)10個(gè)厚度值和5個(gè)聲速值；

三、技術(shù)參數(shù)

性能	TT130
測(cè)量范圍	0.75—300mm
顯示分辨率	0.01mm
聲速范圍	1000—9999m/s
工件表面溫度	-10~60
顯示	四位液晶顯示
示值誤差	+_（1%H+0.1）mm, H為實(shí)際厚度值
管材測(cè)量下限	￠20mmX3.0mm（5P￠10探頭,鋼材）
操作時(shí)間	可連續(xù)操作250小時(shí)（2個(gè)AA型堿性電池，1.5V/個(gè)）

四、基本配置

手提箱	1個(gè)
主機(jī)	1臺(tái)
探頭	5P￠10探頭1支
電池	AA型堿性電池2節(jié)
耦合劑	1瓶
隨機(jī)文件	1套

五、可選附件

1、TT100/TT100A/TT110/TT120/TT130系列超聲波測(cè)厚儀可選探頭

2、耦合劑

如果您對(duì)測(cè)厚儀感興趣的話,可以聯(lián)系我們。

該公司產(chǎn)品分類：天津測(cè)厚儀天津粗糙度儀

手提式鍍層測(cè)厚儀手提式膜厚儀便攜式膜厚儀

全球款手提式 X-射線鍍層測(cè)厚儀

這一款手提式測(cè)厚儀，在大型材料及各種形狀配件鍍層厚度的無損檢測(cè)上有著明顯的優(yōu)勢(shì)。

具備“批量測(cè)試”模式，即一次可以測(cè)量出一批小樣品的總鍍層厚度及平均鍍層厚度

可廣泛應(yīng)用于建筑材料，電子，鍍金行業(yè)及公證/檢測(cè)機(jī)構(gòu)的鍍層檢測(cè)。

配置說明：

微型銀或鎢X-射線管，5個(gè)準(zhǔn)直器。

檢測(cè)器：半導(dǎo)體高分辯率的檢測(cè)器。

電源供應(yīng)：包含兩塊可充電鋰電池和充電器。

操作溫度：-10 ~50攝氏度

FP軟件測(cè)試包：測(cè)鍍層薄膜厚度及金屬元素分析

多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠(chéng)的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！

歡迎咨詢洽談:13424255969

光干涉薄膜測(cè)厚儀

應(yīng)用領(lǐng)域

理論上講，我們的光干涉膜厚儀可以測(cè)量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下為我們最熟悉的應(yīng)用領(lǐng)域(半導(dǎo)體薄膜，光學(xué)薄膜涂層，在線原位測(cè)量，粗糙或弧度表面測(cè)量)：

□ 晶片或玻璃表面的介電絕緣層(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...)；

□ 晶片或玻璃表面超薄金屬層(Ag, Al, Au, Ti, ...)；

□ DLC(Diamond Like Carbon)硬涂層；SOI硅片；

□ MEMs厚層薄膜(100µm up to 250µm)；

□ DVD/CD涂層；

□ 光學(xué)鏡頭涂層；

□ SOI硅片；

□ 金屬箔；

□ 晶片與Mask間氣層；

□ 減薄的晶片(< 120µm)；

□ 瓶子或注射器等帶弧度的涂層；

□ 薄膜工業(yè)的在線過程控制；等等…

軟件功能

豐富的材料庫(kù)：操作軟件的材料庫(kù)帶有大量材料的n和k數(shù)據(jù)，基本上的常用材料都包括在這個(gè)材料庫(kù)中。用戶也可以在材料庫(kù)中輸入沒有的材料。

軟件操作簡(jiǎn)單、測(cè)速快：膜厚測(cè)量?jī)x操作非常簡(jiǎn)單，測(cè)量速度快：100ms-1s。

軟件針對(duì)不同等級(jí)用戶設(shè)有一般用戶權(quán)限和管理者權(quán)限。

軟件帶有構(gòu)建材料結(jié)構(gòu)的拓展功能，可對(duì)單/多層薄膜數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合分析，可對(duì)薄膜材料進(jìn)行預(yù)先模擬設(shè)計(jì)。

軟件帶有可升級(jí)的掃描功能，進(jìn)行薄膜二維的測(cè)試，并將結(jié)果以2D或3D的形式顯示。軟件其他的升級(jí)功能還包括在線分析軟件、遠(yuǎn)程控制模塊等。硬件升級(jí) hspace=0

多通道測(cè)試，最多支持8個(gè)獨(dú)立的同時(shí)測(cè)試 6英寸、12英寸掃描樣品臺(tái)

RTL透明樣品專用夾具用于曲面結(jié)構(gòu)的CSH探頭

顯微鏡配適器不同型號(hào)及規(guī)格NanoCal-VIS 波長(zhǎng)400 -850 nm, 膜厚50 nm.-20 μm (如SiO2 on Si) 分光計(jì)，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-NIR 波長(zhǎng)650 -1100 nm, 膜厚70 nm.-70 μm 分光計(jì)，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-VIS/NIR 波長(zhǎng)400 -1100 nm, 膜厚50 nm.-100 μm (選配1um-250um) 分光計(jì)，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-UV/VIS 波長(zhǎng)250 -850 nm, 膜厚10 nm.-20 μm 分光計(jì)，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-FULL 波長(zhǎng)250 -1100 nm, 膜厚10 nm.-70 μm 分光計(jì)，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-NIR-HR 波長(zhǎng)700 -978 nm, 膜厚1um-250um(選配400um)，高分辨分光計(jì)，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal-512-NIR 波長(zhǎng)900 -1700 nm, 膜厚50 nm.-200 μm InGaAs-512陣列分光計(jì)，A/D轉(zhuǎn)換器，USB和RS232接口，高能鹵素光源，反射探針，軟件NanoCal 軟件單層膜測(cè)量、模擬、分析，支持Windows環(huán)境；NanoCal MS 軟件多層膜測(cè)量、模擬、分析，支持Windows環(huán)境NanoCal Mapping軟件配合6”或12”掃描臺(tái)使用，3D數(shù)據(jù)；NanoCal Online軟件在線原位分析軟件；NanoCal Remote軟件遠(yuǎn)程控制軟件模塊

CMI150涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品名稱:英國(guó)牛津涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品型號(hào):CMI150

產(chǎn)品說明:雙功能技術(shù)的測(cè)厚儀，完成磁感應(yīng)和電渦流測(cè)量自動(dòng)轉(zhuǎn)換。

CMI150測(cè)厚儀應(yīng)用雙功能測(cè)量技術(shù)，能夠自動(dòng)識(shí)別磁性或非磁性底材，然后采用相應(yīng)的測(cè)試方法，適用于各種測(cè)量環(huán)境。CMI150測(cè)厚儀可測(cè)量非磁性底材上的非導(dǎo)電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。

測(cè)厚儀電渦流測(cè)試方法:應(yīng)用包括鋁或銅底材上的特富龍、琺瑯、瓷釉、環(huán)氧樹脂、陽(yáng)極氧化層或涂料的厚度測(cè)量。

測(cè)厚儀磁感應(yīng)測(cè)試方法:應(yīng)用的涂鍍層包括鋅、鎘、涂料或粉末噴涂。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、精度高、穩(wěn)定性好

2、鐵基和非鐵基底材自動(dòng)識(shí)別、切換

3、無需校準(zhǔn)、一鍵操作

4、一體化探頭、小巧實(shí)用、測(cè)量快速精確

5、自動(dòng)開、關(guān)機(jī)以延長(zhǎng)電池使用時(shí)間

產(chǎn)品參數(shù)：

1、測(cè)量范圍：0～2000μmF；0～1000μmN

2、誤差：±3%

3、分辨率：1um

4、最小曲率半徑：5mm凸；25mm凹

5、最小測(cè)量面積：φ20mm

6、最小基體厚度：0.35mm

7、顯示：4位LCD數(shù)顯

8、測(cè)量單位：um-mils可選

9、校準(zhǔn)方式：無需校準(zhǔn)

10、電源：2節(jié)7號(hào)電池

11、儀器尺寸：95x50x25mm

12、儀器重量：71g

MC-2001涂層測(cè)厚儀廠家直銷

涂層測(cè)厚儀廠家直銷，涂層測(cè)厚儀檢測(cè)原理：采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。

科強(qiáng)超聲儀器mc系列涂層測(cè)厚儀，鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

MC-2001型測(cè)量范圍:0-1000μmMC-2002型測(cè)量范圍:10-2000μm測(cè)量精度:±（3%厚度值+1）μm顯示方式：4位液晶數(shù)字顯示、塑料機(jī)殼外型尺寸：161×69×32mm電源：4節(jié)5號(hào)電池重量：260g

涂層測(cè)厚儀廠家直銷

該公司產(chǎn)品分類：測(cè)厚儀超聲波提取設(shè)備超聲波清洗機(jī) 電火花檢測(cè)儀

錫膏測(cè)厚儀

錫膏測(cè)厚儀特點(diǎn)：

● 天然花崗巖：穩(wěn)定性高，不會(huì)變形，可長(zhǎng)時(shí)間使用不需停機(jī)校正

● 線性馬達(dá)：維修保養(yǎng)容易，且沒有螺桿傳輸?shù)哪ズ膯栴}

● 解析度高達(dá)20um;掃描速度64cm2/sec是業(yè)界在高解析度時(shí),可100%

全檢且能有最快檢測(cè)速度的三維錫膏檢測(cè)設(shè)備。

● 實(shí)板330mm×150mm的檢測(cè)時(shí)間為20秒

● 利用干涉條紋所衍生的三相位移演算法可精確計(jì)算錫膏高度、面積、

體積、偏移與短路

● 克服基板彎曲問題

● 簡(jiǎn)易明了的操作界面

● 簡(jiǎn)易快速的轉(zhuǎn)檔程序制作

錫膏測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

外觀尺寸 216cm×116cm×137cm（h×w×d）

重量 1200kg

空氣壓力 3-4kgf/cm2

電源 AC200-240V,50/60Hz,15amps

控制系統(tǒng) AC linear servo motor with resolution 0.5 micros

傳輸帶速度 300mm/sec

傳輸帶高度 890-965mm

可量測(cè)的PCB尺寸 510×450mm

PCB板厚 0.2-7.0mm

PCB板邊緣預(yù)留間隙 Top2.5mm Bottom3.8mm

錫膏測(cè)厚儀掃描速度 64cm2/sec

定位點(diǎn)搜尋 <4seconds

XY相素解析度 20um

Z軸（高度） 1.225um

板彎限制 <2mm for each scan width 42mm

可量測(cè)高度范圍 450um

高度重現(xiàn)性 3um

體積重現(xiàn)性 ±3%

高度精確性 5um

以上為錫膏測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型參數(shù)，如果您有特殊要求，我們會(huì)按照您的要求給您設(shè)計(jì)最適合的方案。

售后服務(wù)：

本產(chǎn)品免費(fèi)送貨上門，免費(fèi)對(duì)客戶方的操作人員進(jìn)行專業(yè)的培訓(xùn)，產(chǎn)品免費(fèi)保修一年，終身服務(wù)。

若您需要更詳細(xì)的了解錫膏測(cè)厚儀，請(qǐng)您撥打我們的服務(wù)熱線：歡迎您的來電！

因?yàn)閷I(yè) 所以值得信賴！

真切關(guān)注聆聽您的感受！

該公司產(chǎn)品分類：環(huán)境類試驗(yàn)箱

測(cè)厚儀手提式X射線熒光測(cè)厚儀

技術(shù)參數(shù) 重量：基體配置1.2kg；1.6kg帶電池尺寸：長(zhǎng)度：30cm；高度：23cm；寬度：7.5cm X射線發(fā)生器：銀或鎢靶微型X射線管；10-40kV，10-50µA 主要過濾器：5個(gè)過濾器測(cè)量尺寸：接觸樣品表面測(cè)量時(shí)，7.75 mm X射線探測(cè)管：Si-PIN高分辨率探測(cè)系統(tǒng) 溫度范圍：-10℃—50℃ 電源：可充電鋰離子電池；含2塊電池及充電器；AC轉(zhuǎn)換器及多電池電源可選購(gòu)。參數(shù)調(diào)整：不銹鋼316作為參考標(biāo)準(zhǔn)

主要特點(diǎn) HMX系統(tǒng)主要特點(diǎn) 無論體積多大的電鍍件，HMX系統(tǒng)是理想的解決辦法對(duì)于QC、電鍍線以及實(shí)驗(yàn)室分析等應(yīng)用的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)的樣品分析基材管理的合金分類以及合金確認(rèn) 獨(dú)特的“分組測(cè)量”模式，允許計(jì)算一組部件的平均厚度

mini ETG-F微型涂鍍層測(cè)厚儀

設(shè)計(jì)用于測(cè)量鋼鐵基體上涂鍍層厚度他是所有預(yù)處理工作的鑒定檢查者可用英制mils或公制um兩種模式顯示尺寸小,一只手就能操作持續(xù)和連續(xù)的讀出數(shù)據(jù) 不需要校準(zhǔn) 適用所有的氣候

測(cè)量范圍:0-1000um

精度:1%