美國JORDAN VALLEY公司RoHS Analyzer熒光光譜儀
美國Jordan Valley 擁有超過30年向全世界眾多客戶提供用于元素含量分析的能量分散型X射線熒光分析
系統(tǒng) (EDXRF)的豐富經(jīng)驗。該公司所制造的儀器能夠提供迅速的、無損傷、多元素的成分確定,檢
測精度可達ppm級。激發(fā)類型:直接激發(fā)采用光學設(shè)計,增大激發(fā)效率.如激發(fā)RoHS指令限制Cd元素時,激發(fā)電壓50Kv即可,而偏振光則需要激
發(fā)電壓為300Kv,后者價格大約為9萬美金左右檢測器類型:新一代Si PIN檢測器檢測器采用電制冷,使用方便,整機需220v 50HZ電源即可使用.穩(wěn)定時間只需20分鐘.而.Si(Li)檢測器需
液氮冷卻,操作不方便,有凍傷危險,并每月需要購買液氮,一般在300元左右. Si PIN檢測器與.Si(Li)檢
測器分辨率(分離相鄰譜線的能力)分別為:150ev 140ev,因為RoHS指令中的元素都不是相鄰元素,所以無
任何意義.最大激發(fā)電壓:50Kv 4mA最大激發(fā)功率:50W能量之調(diào)整通常由電壓及電流來決定的,電壓增加將使陰、陽極電場加大,使電子速加大,亦即穿透能力
加大,電流增加將使陰極燈絲產(chǎn)生之電子數(shù)目增加,目前全球只有美國JORDAN VALLEY公司能把電流做到
4mA,而其他公司最多只做到2mA而已,如對與Br、Cr元素的測試,激發(fā)電流2mA時,檢測限為5ppm,當激
發(fā)電流4mA時,檢測限可以做到2ppm。此外,由電壓、電流之能量組合,使激發(fā)能量更適合欲分析元素,
而較強能量可增加可測元素范圍。元素分析范圍:Na—U電腦:綜合的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)標配件:試樣觀測系統(tǒng)彩色CCD監(jiān)視器 抗震實驗:可在機動車上安裝及操作客戶支持及維修服務(wù):在安裝期間由JORDAN VALLEY專家進行詳盡的培訓,香港環(huán)球分析測試儀器有限公司作為其國內(nèi)代理
,并提供用戶應(yīng)用和技術(shù)服務(wù)支持,因為我們維修部與其他公司盈利性質(zhì)維修部不一樣,在保修期間,
其他公司一次維修費用大約2000到3000元左右,是我們的幾倍。
香港環(huán)球分析測試儀器有限公司 銷售工程師:錢磊電話:021-54259540 13661535228 傳真:021-54259442 郵箱:leoqian@163.com
一、KDS-3A金屬分析儀性能特點: 金屬分析儀采用智能動態(tài)跟蹤和標準曲線非線性回歸等技術(shù),直讀含量,自動打印結(jié)果。采用微機技術(shù)自動跟蹤檢測,可儲存多條標準曲線,斷電不受影響。標準曲線自動建立,自動判斷檢測誤差,確保數(shù)據(jù)。采用了的冷光源技術(shù)使數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定。
二、KDS-3A金屬分析儀技術(shù)參數(shù):測量范圍(以Mn、P、Si、Cr、Ni、Mo.......為例): Mn:0.010-15.00% P:0.005-0.500% Cr:0.01-30.00% Si:0.10-5.00% Ni:0.01金屬分析儀-30.00% Mo:0.01-6.00%......(若改變測試方法,可擴大測量元素的種類和含量范圍)測量精度:符合GB223.3-5-1988標準 比色時間:約3秒
產(chǎn)品介紹 適用于技術(shù)監(jiān)督部門的質(zhì)量認定,金店,黃金加工及人民銀行收購部門的質(zhì)量控制。無損檢測,操作簡捷,全功能自動管理軟件,對黃金,鉑金,K白金飾品中的金、銀、銅、鈀、鎳、鋅、錮、銥可做高精度定量分析,符合國標GB/T 18043-2000中要求對鉑、鈀、鎳含量的精度分析。串行口通訊,無損測量,測量時間100秒。 對首飾金、鉑、銀、銅、鎳的分析誤差小于0.3-0.5%;對鉑的分析誤差小于1%;對鉑金、K白金的鉑、鈀、鎳、銅可做定量分析;對鉛、鐵、鋅等可做半定量分析;對鍍金、鍍銀、鍍鎳樣品可做鍍層厚度分析(5微米以內(nèi)),適于電鍍行業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量控制、技術(shù)監(jiān)督部門質(zhì)量認定、金店、黃金生產(chǎn)、收購的質(zhì)量控制。
百學儀器Real 900G手持式貴金屬分析儀技術(shù)參數(shù)* 重量:<1.6kg * 外形尺寸:250*200*75mm * 激發(fā)源:微型X射線管和電源(40KV/200uA最大值) * X射線探測器:高性能的Si-PIN探測器,熱電(Peltier)制冷 * 電路系統(tǒng):DSP微嵌入式系統(tǒng) * 電池:隨機提供2個具有熱交換功能的鋰電池,100v/210v通用充電器。可持續(xù)使用4-6小時,充電時間約為2小時 * 顯示器:液晶背景功能的視頻圖形陣列觸摸屏LCD * 檢測時間:10-200秒(可手持式或座立式測試) * 檢測范圍:硫(S)到鈾(U)之間所有元素 * 元素檢出限:10ppm~100ppm * 超大的功率。40KV,100MA高達4W的大功率X射線管技術(shù)使儀器具有更低檢測下限 * 電磁擾被屏蔽,即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作 * 驚人的檢測精度。工作30秒即可將樣品中的成份精度提升到常規(guī)儀器水平 * 采用小功率端窗一體化微型光管,功耗小、激發(fā)效率高,結(jié)合使用大面積鈹窗電致冷Si-PIN探測器,使該手持式儀器具有與臺式機相近的測試性能
◎無損樣品,前處理簡單 ◎能分析出塑料中含有的1PPm的鎘 ◎直觀的分析界面 ◎自動編制附帶合格與否判定結(jié)果的分析表 一、技術(shù)指標 X熒光光譜儀ROHS指令檢測主要技術(shù)指標 1.檢測儀器SkyrayEDX3000B 2.樣品室尺寸:A型400*500*300MM B型1000*1000*300MM 3.測量時間:200秒 4.高壓:25-50KV 5.管流:50--1000uA 6.計數(shù)率:1300-8000Cps 7.ROHS指令有害元素分析儀檢出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br達1PPM 8.電致冷硅針半導體探測器 9.加強金屬元素感度分析 10.分析范圍:1ppm--99.99% 11.測量元素:歐盟ROHS有害微量元素Cd/Pb/Cr/Hg/Br,其中對PBB、PBDE只能測其Br總量,對六價鉻只能測其Cr的總量,通過有償服務(wù)可以增加鍍層膜厚分析軟件與其相關(guān)標樣可以擴展測到從鉀到軸等73種元素 二、主要配置 主要部件: - 主機壹臺,含下列主要部件: •X光管:使用壽命大于5千小時 •探測器:電制冷半導體探測器;分辨率:170±10電子伏特 •放大電路; •高壓系統(tǒng) :從25KV~50KV,1毫安 •樣品腔:開放式大樣品腔(1000mm*1000mm*300mm) •計數(shù)率:1300-8000計數(shù)率/秒 •ROHS分析軟件 測塑料中ROHS指令及金屬中ROHS指令的軟件。 三、應(yīng)用領(lǐng)域 § 化學工業(yè) 無機有機制品、化學纖維、催化劑、涂料、顏料、藥品、化妝品、洗滌劑、橡膠、調(diào)色劑等 § 陶瓷、水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、巖石等 § 電子磁性材料半導體、磁光盤、磁性材料、電池、線路板、電容器等 § 農(nóng)業(yè)、食品土壤、肥料、植物、食品等 § 鋼鐵生鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、爐渣、鐵礦石、鐵合金、表面處理鋼板、電鍍液、鑄造砂等 § 環(huán)境工廠廢水、海水、河水、大氣粉塵、工業(yè)廢物等 § 石油、煤炭石油、重油、潤滑油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等 § 紙張、紙漿涂布紙、滑石、調(diào)色劑、墨水等 § 有色金屬銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等
聯(lián)系人:郁光照 電話:0769-22305416(手機13790221005)
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Fischerscop@X—RAY System XDL@一B及XDLM@一C4的設(shè)計是專門測量金屬鍍層厚度的儀器, 它是采用WinFTMV.3的軟件, 計算方面用了的FP(FUrldamental Parameter)、DCM(Distance Con“olled Measurement)及強大的電腦功能, X—RAY XDL —B及XDLM —C4已經(jīng)可以在不使用標準片調(diào)校儀器之下, 一樣可以進行測量。應(yīng)用方面:罩性金屬鍍層厚度測量, 例如Zn;Cr; Cu; Ag; Au; Sn等 合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測量, 例如: SnPb; ZnNi; 及NiP(無電浸鎳)在Fe上等合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測量, 例交口: AuCuCd在Ni上等雙鍍層厚度測量, 例如:Au/Ni在Cu 上; Cr/Ni在Cu上;Au/Aq在Ni上;Sn/Cu在黃銅上等雙鍍層厚度測量(其中一層是合金層), 例如: SnPb/Ni或Au/PdNi在青銅上等三鍍層, 例如: Cr/Ni/Cu在塑膠或在鐵上金屬成份分析, 最多可以分析四種金屬元素規(guī)格:主機——高650mmx闊570mmx深740mrn; 重55kg測量箱一高300mmx闊460mmx深500mmXDL@—B: 圓形準值器一中0.3mmXDLM@—C4:4倜準值器一中0.1 mm; 中O,2mm;中0.3mm及0.05X0.3mmX一射線向下投射主機上有直接測量鍵可調(diào)校X一射線管高壓: 30kV,40kV或50kV彩色顯示測量位置, 焦距距離計算辦法(DCM)最大焦距調(diào)節(jié)為80mm外置式電腦(Pentium或同級)及VGA彩色屏幕可選配自動或手動的測量臺 |
· 零部件、連接器、PCB中的Pb含量
·焊料中的Pb, Cu, Fe, Ag, Bi
·聚合材料中的Br, Pb, Hg, 和Cd
·框架和緊固件中的涂層,如Cr
· 其他材料中的Cr, Pb, Cd, Hg, Br和其他感興趣的元素