產(chǎn)品特點(diǎn): B131便攜式LCR測(cè)試儀,快速、簡(jiǎn)便測(cè)試和分析大范圍的分立元器件。 測(cè)量L,C和R,包括介損和質(zhì)量因數(shù) 同時(shí)測(cè)量?jī)蓚(gè)參數(shù),雙向顯示 最大顯示9999 并/串模式 測(cè)試頻率1KHz和120Hz 標(biāo)準(zhǔn)偏差測(cè)量模式 阻值測(cè)量:1mΩ—10mΩ 電容測(cè)量:0.1pF-10mF 電感測(cè)量:0.1mH-10KH 自動(dòng)或手調(diào)轉(zhuǎn)換量程 提供標(biāo)準(zhǔn)保護(hù)皮套
E4980A 精密LCR測(cè)試儀
Agilent E4980A精密LCR表在20Hz至20MHz范圍內(nèi)提供的精度及重復(fù)性測(cè)量,支持LAN、USB及GPIB計(jì)算機(jī)連接。E4980A不僅為低抗阻情況下提供快速測(cè)量及的性能,在高抗阻情況下亦如此,而不像其它LCR表只能滿足其中之一。與Agilent4284A LCR表比較,E4980A的測(cè)量速度快至5倍,更有PC界面、緊湊的設(shè)計(jì)以及更多特性以滿足您將來的設(shè)計(jì)與測(cè)試生產(chǎn)要求。 特性 ·20Hz至2MHz,以及在任何范圍都有的4數(shù)位分辨率 ·0.05%基本精度,低抗阻及高抗阻時(shí)的測(cè)量可重復(fù)性 ·高速測(cè)量:5.6 ms ·20 Vrms 測(cè)試信號(hào) ·內(nèi)置的40V DC偏置 ·40A直流支持,使用 Agilent 42841A偏置電流電源 ·201列點(diǎn)掃描
簡(jiǎn)單介紹
Agilent E4980A精密LCR表在20Hz至20MHz范圍內(nèi)提供的精度及重復(fù)性測(cè)量,支持LAN、USB及GPIB計(jì)算機(jī)連接。E4980A不僅為低抗阻情況下提供快速測(cè)量及的性能,在高抗阻情況下亦如
020-62817730/FAX/020-62817729
PM6304LCR測(cè)試儀
高速測(cè)量
Agilent 4263B依靠在任何測(cè)試頻率上都有25ms的測(cè)量速度來提高一產(chǎn)率,這種能力提高了電解電容順和變壓器測(cè)試的效率,4263B能檢查測(cè)試端子與被測(cè)件(DUT)之間的接觸狀況,這種功能在生產(chǎn)中用自動(dòng)處理器進(jìn)行合格。不合格的測(cè)試的性,有故障的被測(cè)件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作,因此處理器始終能以速度工作。
電解電容器測(cè)量
變壓器參數(shù)測(cè)量
技術(shù)指標(biāo):
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一般技術(shù)指標(biāo):
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主要技術(shù)資料
v 瑞普高電子除了上述4263B以外還能為客戶提供以下LCR測(cè)試儀:
4284A 4285A
v 在提供有質(zhì)量的二手測(cè)試儀器同時(shí), 瑞普高電子還可以為貴公司提供測(cè)試儀器的維修,計(jì)量校準(zhǔn),租賃和回收服務(wù)等一系列的服務(wù)。公司網(wǎng)址:www.ruipugao.com
· 100Ω,輸入阻抗選擇· 0.3V電平· 操作簡(jiǎn)單,讀數(shù)穩(wěn)定性好· 適合于元件生產(chǎn)廠測(cè)試線用儀器產(chǎn)品規(guī)格:
型號(hào) | YD2810HB |
測(cè)試參數(shù) | L、C、R、Q、D |
測(cè)試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz |
測(cè)試電平 | 0.3V |
顯示范圍 | C:0.01pF-10999μF D:0.0000~9999 L:0.1μH~999.9H Q:0.001~9999 R:0.001Ω~39.999MΩ |
基本度 | 0.1%(基本量程內(nèi)) |
測(cè)量速度 | 慢:6次/秒,快:20次/秒 |
量程方式 | 自動(dòng)選擇 |
其它功能 | 量程鎖定功能 |
顯示方式 | 直讀 |
輸入阻抗 | 100Ω |
清零功能 | 開路,短路掃頻清零 |
工作溫濕度 | 0℃-40℃,≤85%RH |
電源要求 | 198V-242V AC,47.5Hz-52.5Hz |
外形尺寸 | 290×275×110(mm) |
重量 | 4kg |
HP-4284A/HP-4285A電橋LCR測(cè)試儀
*20Hz-1MHz具有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率
*0.05%的基本精度,6位數(shù)字分辨率
*恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
*20Vrms電平選件(選件001)
*用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc
*具有列表掃描測(cè)量功能
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過提供精確、高吞吐量的測(cè)試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào),使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合最通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)(國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)),且工作在模擬所使用的工作條件下。無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量中還是進(jìn)貨檢驗(yàn),4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。
日本日置IM3536 LCR測(cè)試儀 | |
測(cè)量模式 | LCR(單一條件下測(cè)量),連續(xù)測(cè)量(保存條件下連續(xù)測(cè)量) |
測(cè)量參數(shù) | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流電阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
測(cè)量量程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(所有參數(shù)由Z規(guī)定) |
顯示范圍 | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
基本精度 | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保證范圍:1mΩ~200MΩ) |
測(cè)量頻率 | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進(jìn)) |
測(cè)量信號(hào)電平 | [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V) [直流電阻測(cè)量]: 1 V固定 |
DC偏壓 | 發(fā)生范圍:DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時(shí)0 ~1 V) |
輸出阻抗 | 通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
顯示 | 彩色TFT5.7英寸,觸摸屏 |
功能 | 比較器、BIN測(cè)量(2個(gè)項(xiàng)目10種分類),觸發(fā)功能、開路·短路補(bǔ)償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲(chǔ)功能 |
接口 | EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出 |
電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
體積及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
附件 | 電源線×1,使用說明書×1,CD-R(通訊說明書,LCR應(yīng)用光盤)×1 |
主要特點(diǎn) ● 測(cè)量參數(shù)多 ● 測(cè)量范圍寬,精度高 ● 頻率范圍寬,75kHz~300MHz,以100Hz步進(jìn) ● 具有GP-IB接口功能 ● 具有掃描、延時(shí)等測(cè)量功能 ● 可配多種測(cè)試夾具 ● 可配大電流偏置電源● 測(cè)量參數(shù)多 可測(cè)量 R(電阻)、C(電容)、L(電感)、Z(阻抗)、D(損耗因子)、Q(品質(zhì)因子)、G(電導(dǎo))、X(電抗)、B(電納)、θ(相位角)● 測(cè)量范圍寬,精度高 有效測(cè)量范圍 電阻:0.01Ω~10MΩ 電容:0.1pF~100μF 電感:0.1nH~100mH 基本準(zhǔn)確度:0.1%● 頻率范圍寬 頻率范圍:75kHz~30MHz, 分辨率:100Hz● 可配大電流偏置電源● 測(cè)試夾具 配有GLS-AV83101、GLS-AV83102、GLS-AV83103三種測(cè)試夾具,可以適用不同封裝的元器件
測(cè)試頻率:100/120/1K/10KHz | |||
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