MHV-1000 | |||||||||||||||||
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主要特點(diǎn) | |||||||||||||||||
儀器在機(jī)械,光學(xué),光源上采用獨(dú)特的、精密的設(shè)計(jì),使壓痕成像更清晰,測(cè)量更精確。本機(jī)配有10倍數(shù)顯式測(cè)量顯微鏡,20倍和40倍物鏡都能參與測(cè)量,使測(cè)量范圍更大,應(yīng)用范圍更廣泛,并采用液晶大屏幕,操作上更直觀,更清晰,在屏幕上能顯示試驗(yàn)方法、試驗(yàn)力、壓痕長(zhǎng)度、硬度值、試驗(yàn)力保持時(shí)間、測(cè)量次數(shù)、日期、時(shí)間、硬度轉(zhuǎn)換值等。它具有直接測(cè)量讀數(shù)、17個(gè)轉(zhuǎn)換標(biāo)尺、存儲(chǔ)、打印和RS232接口等功能,并擁有可供連接數(shù)碼相機(jī)和CCD攝像頭的螺紋接口。在國(guó)內(nèi)的同類產(chǎn)品中具有一定的代表性,性。 | |||||||||||||||||
技術(shù)規(guī)格 | |||||||||||||||||
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應(yīng)用范圍 | |||||||||||||||||
——黑色金屬、有色金屬、 IC薄片、層壓金屬、表面涂層; | |||||||||||||||||
——玻璃、陶瓷、瑪瑙、寶石等; | |||||||||||||||||
——炭化層和淬火硬化層的深度及梯度的硬度測(cè)試。 | |||||||||||||||||
主要附件 | |||||||||||||||||
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可選附件 | |||||||||||||||||
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小負(fù)荷顯微維氏硬度計(jì) 型號(hào):M274082 | |
主要特點(diǎn): 特別適合于測(cè)定金屬薄小零件、脆性材料、表面淡化及滲碳、經(jīng)過熱處理的零部件的顯微硬度檢測(cè)。 裝有兩個(gè)物鏡,裝有二路照明通道;供測(cè)定(40X)和觀察(100X)使用,通過轉(zhuǎn)臺(tái)定位系統(tǒng),可以精確地確定壓痕位置。 主要技術(shù)規(guī)格: 試驗(yàn)力: 牛頓(N) 0.098 0.246 0.49 0.98 1.96 2.94 4.90 9.80 克力(gf) 10 25 50 100 200 300 500 1000 測(cè)量范圍:5-2500HV 加荷機(jī)構(gòu):自動(dòng)加卸試驗(yàn)力 顯微鏡倍率:測(cè)量用400X(物鏡40X,目鏡10X) 觀察用100X(物鏡10X,目鏡10X) 試驗(yàn)力保持時(shí)間:5~60sec 測(cè)量顯微鏡:最大測(cè)量長(zhǎng)度150μm 最小分度值0.0625μm(HVS-1000),0.5μm(HV-1000) 試件允許最大高度:65mm 壓頭中心至機(jī)壁距離:85mm 微動(dòng)載物臺(tái):100*100mm/XY=25mm/0.01mm 輸出:打印機(jī)(HVS-1000) 攝像裝置:CCD(選配) 電源:交流220伏,50Hz(AC100V) 外形尺寸:W290 x D405x M480毫米 重量:約25千克 需與下列儀器配套使用: SSF16-22鑲嵌機(jī) ¥3150.00 10% SSF16-MP-1磨拋機(jī) ¥5920.00 10% 如果被測(cè)物品特別小的話寄樣品先試一試。 |
401MVD™顯微維氏硬度計(jì)
顯微維氏標(biāo)尺 | HV0.01, HV0.025, HV0.05, HV0.1, HV0.3, HV0.5, HV1 |
轉(zhuǎn)換標(biāo)尺 | 洛氏、布氏 |
顯示 | 5位數(shù)的硬度值,4位數(shù)的對(duì)角線長(zhǎng)度(D1,D2),GO/NG設(shè)定值, 試驗(yàn)力,保持時(shí)間,測(cè)試次數(shù),平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差,回歸 |
試驗(yàn)力 | 10-25-50-100-200-300-500-1000gf |
精度 | 符合EN-ISO 6507和ASTM E384 |
加卸載控制 | 全自動(dòng)(加載/保持/卸載) |
試驗(yàn)力保持時(shí)間 | 5 ~ 60秒(1秒為增量) |
試驗(yàn)力選擇 | 外置式選力旋鈕 |
物鏡放大倍數(shù) | 10×,40× |
光通道 | 雙光通道(目鏡及CCD攝像通道) |
測(cè)量目鏡 | 自動(dòng)數(shù)字式編碼器 |
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總放大倍數(shù) | 100×(觀察),400×(測(cè)量) |
測(cè)量范圍 | 200μm |
分辨率 | 0.01μm |
XY試臺(tái) 尺寸 | 100×100mm |
行程范圍 | 25×25mm |
最小讀數(shù) | 0.01mm |
試件 最大高度 | 85mm(2.55") |
最大寬度 | 120mm(3.35")(從壓頭中心線起至機(jī)壁距離) |
輸出 | 內(nèi)置打印機(jī)(硬度值和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)),RS232串行接口 |
光源 | 鹵素?zé)?/div> |
電源 | 110-220V 50Hz |
尺寸 | 513×320×470mm |
重量 | 36kg |
SBWR4280/420D隔爆型,本安型熱電偶電阻,溫度變送器,SBWR-4280/420D, 隔爆型 本安型熱電偶電阻 溫度變送器 SBWR-4280/420D SBWR2180/240I隔爆型,本安型熱電偶電阻,溫度變送器,SBWR-2180/240I, 隔爆型 本安型熱電偶電阻 溫度變送器 SBWR-2180/240I SBWR218/240D隔爆型,本安型帶熱電偶電阻,溫度變送器,SBWR-218/240D, 隔爆型 本安型帶熱電偶電阻 溫度變送器 SBWR-218/240D SBWR4180/240D隔爆型,本安型帶熱電偶溫度變送器,SBWR-4180/240D, 隔爆型 本安型帶熱電偶溫度變送器 SBWR4280/240I隔爆型,本安型熱電偶電阻,溫度變送器,SBWR-4280/240I, 隔爆型 本安型熱電偶電阻 溫度變送器 SBWR-4280/240I SBWR2280/440D隔爆型,本安型帶熱電偶電阻溫度變送器,SBWR-2280/440D, 隔爆型 本安型帶熱電偶電阻溫度變送器 SBWR-2280/440D WZP203S鉑熱電阻元件,WZP-203S 鉑熱電阻元件 WZP-203S 鉑熱電阻元件 WZP-203S 鉑熱電阻元件 WZP-203S WZPM2012鉑熱電阻元件,WZPM-2012 鉑熱電阻元件 WZPM-2012 鉑熱電阻元件 WZPM-2012 鉑熱電阻元件 WZPM-2012 WRE520直角彎頭熱電偶|WRE-520 直角彎頭熱電偶|WRE-520 直角彎頭熱電偶|WRE-520
無(wú)主軸摩擦,精密讀數(shù)測(cè)微計(jì) | |
主要特點(diǎn): | 應(yīng)用范圍: |
·無(wú)摩擦主軸結(jié)構(gòu),試驗(yàn)精度高 | ·滲碳層、陶瓷、鋼、有色金屬 |
·高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),精密坐標(biāo)試臺(tái) | ·薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件 |
·試驗(yàn)過程自動(dòng)化,操作簡(jiǎn)單,無(wú)人為操作誤差 | ·氮化層、滲碳層和淬火硬化層梯度測(cè)量 |
·可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統(tǒng) | ·適用于平行平面和微小零件及超薄零件的精密維氏硬度測(cè)量 |
·可選配努氏壓頭進(jìn)行努氏硬度試驗(yàn) | |
·精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美國(guó)ASTM E384 | |
主要技術(shù)規(guī)格: | 標(biāo)準(zhǔn)配備: |
·測(cè)量范圍:5-3000HV | ·座標(biāo)試臺(tái):1個(gè),細(xì)軸試臺(tái):1個(gè),薄片試臺(tái):1個(gè) |
·試驗(yàn)力:0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807N(10、25、50、100、200、300、500、1000gf) | ·大V型塊:1個(gè),小V形塊:1個(gè) |
·試樣允許最大高度:90mm | ·金剛石角錐壓頭:1只 |
·壓頭中心至機(jī)壁距離:120mm | ·標(biāo)準(zhǔn)維氏硬度塊:2塊,標(biāo)準(zhǔn)顯微硬度塊:1塊 |
·最小檢測(cè)單位:0.25μm | |
·測(cè)量系統(tǒng)放大倍率:400X,100X | |
·外形尺寸:530*290*490mm | |
·電源:AC220V,50/60Hz | |
·重量:40kg |